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发明公开
分光分析装置以及分光分析方法审中-实审

公开(公告)号：CN119534402A

公开(公告)日：2025-02-28

申请号：CN202411134214.8

申请日：2024-08-19

Applicant: 横河电机株式会社

Inventor： 原理纱 , 猿谷敏之 , 村山广大 , 石井健知

IPC: G01N21/55 , G01N21/01 , G01N21/03

Abstract: 本发明涉及一种分光分析装置以及分光分析方法。本发明涉及的分光分析装置(1)具有：照射部(10)，其使照射光向被测定对象照射；受光部(40)，其接受基于照射光的来自被测定对象的反射光；以及控制部(80)，其基于反射光而对被测定对象的光学特性进行分析，控制部(80)获取包含将照射光向被测定对象引导的观察窗(W)在内的测定环境的环境信息，根据环境信息而对表示光学特性的参数进行校正。

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