基于多水平步降应力的LED照明产品加速衰减试验的方法

    公开(公告)号:CN103940585B

    公开(公告)日:2016-08-17

    申请号:CN201410152752.X

    申请日:2014-04-16

    Abstract: 本发明公开了一种基于多水平步降应力的LED照明产品加速衰减试验的方法,包括如下步骤:1)设定置信度数值和样品数量;2)对目标试样进行高加速寿命试验,得到最高极限温度应力水平;3)设定恒定湿度应力、多个步降温度应力水平及试验总时间,设定各温度应力的步长时间及测量时间节点;4)测量目标试样的光通量初始值,得到光通量衰减轨迹数据;5)进行衰减机理指标检验;6)计算目标试样伪失效寿命;7)对伪失效寿命进分布检验,选择分布函数;8)结合阿伦尼斯温度加速模型得到目标试样可靠度分布函数、平均寿命及中位寿命。这种方法能改善步进应力试验方法在LED照明产品上应用的柔性和通用性,进一步缩短加速时长和提高加速试验评估寿命预测精度。

    基于多水平步降应力的LED照明产品加速衰减试验的方法

    公开(公告)号:CN103940585A

    公开(公告)日:2014-07-23

    申请号:CN201410152752.X

    申请日:2014-04-16

    Abstract: 本发明公开了一种基于多水平步降应力的LED照明产品加速衰减试验的方法,包括如下步骤:1)设定置信度数值和样品数量;2)对目标试样进行高加速寿命试验,得到最高极限温度应力水平;3)设定恒定湿度应力、多个步降温度应力水平及试验总时间,设定各温度应力的步长时间及测量时间节点;4)测量目标试样的光通量初始值,得到光通量衰减轨迹数据;5)进行衰减机理指标检验;6)计算目标试样伪失效寿命;7)对伪失效寿命进分布检验,选择分布函数;8)结合阿伦尼斯温度加速模型得到目标试样可靠度分布函数、平均寿命及中位寿命。这种方法能改善步进应力试验方法在LED照明产品上应用的柔性和通用性,进一步缩短加速时长和提高加速试验评估寿命预测精度。

    一种基于有限元仿真分析的LED灯具寿命快速预测方法

    公开(公告)号:CN103294867A

    公开(公告)日:2013-09-11

    申请号:CN201310219603.6

    申请日:2013-06-05

    Abstract: 本发明公开了一种基于有限元仿真分析的LED灯具寿命快速预测方法。该方法的基本思想是结合有限元仿真分析及灯具表面温度测量,预测LED灯具结温,从而得到LED灯具寿命范围。首先,确定灯具尺寸、材料等参数,并在LED灯具上选择一个参考点。然后,有限元建模仿真分析灯具结温及温度分布,得到灯具结温与参考点温度的稳定关系。最后,在灯具工作稳定时测量参考点温度基础上,根据确定的LED结温与寿命的关系,推算出LED灯具的寿命范围。本发明的方法简单,避免了长时间的退化试验,大大缩短了评估周期;不但可以在可靠性寿命评估方面应用,也可以在LED照明灯具设计及改善方面具有很好的实用价值。

    本发明提高了LED灯具结温预测的精度。基于分离式仿真分析的LED灯具结温预测方法

    公开(公告)号:CN104133997B

    公开(公告)日:2017-03-15

    申请号:CN201410365043.X

    申请日:2014-07-29

    Abstract: 本发明公开了一种基于分离式仿真分析的LED灯具结温预测方法。一、确定灯具的结构尺寸、材料、工作环境等参数。二、确定灯具所用LED封装器件的电压温度特性。三、建立忽略LED封装器件结构的数值分析模型,仿真分析得到LED封装器件底部的平均温度。四、建立LED封装器件的数值仿真分析模型,在LED封装器件底面施加一系列数值离散的等效对流散热系数进行仿真分析,利用分析结果建立对流系数与LED封装器件底面平均温度的函数关系。五、建立LED灯具封装器件的数值分析模型,通过插值算法计算进行LED灯具仿真分析时封装器件底部平均温度与进行LED封装器件仿真分析时底部平均温度相等时对应的对流系数及计算出 LED封装器件的结温,

    一种基于有限元仿真分析的LED灯具寿命快速预测方法

    公开(公告)号:CN103294867B

    公开(公告)日:2016-05-11

    申请号:CN201310219603.6

    申请日:2013-06-05

    Abstract: 本发明公开了一种基于有限元仿真分析的LED灯具寿命快速预测方法。该方法的基本思想是结合有限元仿真分析及灯具表面温度测量,预测LED灯具结温,从而得到LED灯具寿命范围。首先,确定灯具尺寸、材料等参数,并在LED灯具上选择一个参考点。然后,有限元建模仿真分析灯具结温及温度分布,得到灯具结温与参考点温度的稳定关系。最后,在灯具工作稳定时测量参考点温度基础上,根据确定的LED结温与寿命的关系,推算出LED灯具的寿命范围。本发明的方法简单,避免了长时间的退化试验,大大缩短了评估周期;不但可以在可靠性寿命评估方面应用,也可以在LED照明灯具设计及改善方面具有很好的实用价值。

    基于分离式仿真分析的LED灯具结温预测方法

    公开(公告)号:CN104133997A

    公开(公告)日:2014-11-05

    申请号:CN201410365043.X

    申请日:2014-07-29

    Abstract: 本发明公开了一种基于分离式仿真分析的LED灯具结温预测方法。一、确定灯具的结构尺寸、材料、工作环境等参数。二、确定灯具所用LED封装器件的电压温度特性。三、建立忽略LED封装器件结构的数值分析模型,仿真分析得到LED封装器件底部的平均温度。四、建立LED封装器件的数值仿真分析模型,在LED封装器件底面施加一系列数值离散的等效对流散热系数进行仿真分析,利用分析结果建立对流系数与LED封装器件底面平均温度的函数关系。五、建立LED灯具封装器件的数值分析模型,通过插值算法计算进行LED灯具仿真分析时封装器件底部平均温度与进行LED封装器件仿真分析时底部平均温度相等时对应的对流系数及计算出LED封装器件的结温,本发明提高了LED灯具结温预测的精度。

    基于多水平步进应力的LED照明产品加速衰减试验方法

    公开(公告)号:CN103913300A

    公开(公告)日:2014-07-09

    申请号:CN201410152513.4

    申请日:2014-04-16

    Abstract: 本发明公开了一种基于多水平步进应力的LED照明产品加速衰减试验的方法,包括如下步骤:1)设定置信度数值和样品数量;2)设定恒定湿度应力-多个步进温度应力水平及试验总时间,设定各温度应力的步长时间及测量时间节点;3)测量目标试样的光通量初始值,得到目标试样的光通量衰减轨迹数据;4)进行衰减机理指标检验;5)计算目标试样伪失效寿命;6)对伪失效寿命进分布检验,并选择分布函数;7)求出分布函数的分布参数,结合阿伦尼斯温度加速模型,得到目标试样的可靠度分布函数、平均寿命及中位寿命。这种方法能改善步进应力试验方法在LED照明产品上应用的柔性和通用性,进一步缩短加速时长和提高加速试验评估寿命的精度。

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