公开(公告)号：CN105182367A

公开(公告)日：2015-12-23

申请号：CN201510611230.6

申请日：2015-09-22

Applicant: 桂林电子科技大学

Inventor： 蔡成林 ,  秦懿 ,  李思敏 ,  王京辉 ,  王亮亮 ,  刘昌盛 ,  张炘 ,  卢亚军

IPC: G01S19/07

CPC classification number: G01S19/07

Abstract: 本发明公开了一种提取BDS卫星电离层穿刺点电子浓度的新方法，根据电离层在小区域内具有良好的空间相关性的特点，搜索出电离层穿刺点距离在100Km内的BDS与GPS卫星，用户解算出此刻搜索到的GPS卫星电离层穿刺点电子浓度，再将解算值与搜索出的BDS卫星电离层穿刺点电子浓度近似相等，得到BDS卫星电离层穿刺点处的电子浓度（VTEC），再通过倾斜因子转化为站-星斜向电离层含量（TEC）。本发明可精确提取BDS卫星电离层穿刺点的电子浓度，解决BDS系统在我国区域电离层精确改正的问题。