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发明公开
基于微波反射极值算法的非均匀等离子体诊断方法审中-实审

公开(公告)号：CN118747420A

公开(公告)日：2024-10-08

申请号：CN202410720798.0

申请日：2024-06-05

Applicant: 桂林电子科技大学

Inventor： 莫锦军 , 史宇航

IPC: G06F30/20 , G06F30/15

Abstract: 本发明涉及等离子体诊断技术领域，具体涉及一种基于微波反射极值算法的非均匀等离子体诊断方法，首先，确立等离子体回波信号的全反射区与非全反射区。并在全反射区域内获取最大值点M1。接着，通过M1与回波信号衰减值Att确定非全反射区内的极小值N1。基于N1的电平值将非全反射区划分为存在有效极小值区域和无有效极小值区域。从而诊断每层等离子体电子密度ne(i)。随后，通过电磁仿真软件获取多层等离子体并获取每一层的相位差Δφi。再通过相位差求解真实相移常数βi。然后，求解每一层等离子体碰撞频率ve(i)。接着，通过算例验证分析诊断误差。最后利用校准算法对诊断误差进行判别并修正误差。

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