一种容栅式数显卷尺
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN107843165A

    公开(公告)日:2018-03-27

    申请号:CN201711173101.9

    申请日:2017-11-22

    CPC classification number: G01B3/10 G01B3/1061 G01B3/1082 G01B2003/1069

    Abstract: 本发明涉及一种容栅式数显卷尺,包括壳体、尺带盒、尺带和容栅传感器,所述壳体内的沿其轴向设有可转动的中轴,所述尺带盒通过所述中轴安装在所述壳体内靠近壳体后面的一侧,在所述尺带盒内设有对其进行预紧的发条;所述尺带缠绕收集在所述尺带盒外圆周的凹槽内;所述容栅传感器处于所述壳体内靠近壳体前面的一侧并通过测量所述中轴的转动角度来得出尺带的测量长度;所述壳体内壁对应所述出口的位置处设有用于调节所述尺带伸出到壳体外或者收缩到壳体内的速度的自调机构。通过自调机构自动调整尺带伸出到壳体外或者收缩到壳体内的速度,防止尺带伸出壳体外或收缩壳体内的速度过快,导致容栅传感器的响应速度跟不上而影响测量结果。

    一种单轴测量式测头及其测量方法

    公开(公告)号:CN112247670B

    公开(公告)日:2024-07-09

    申请号:CN202011100372.3

    申请日:2020-10-15

    Abstract: 本发明涉及一种单轴测量式测头及其方法,包括壳体、传感器、测杆、偏摆测量机构和激光线指示装置;壳体上端设有安装柄;传感器、偏摆测量机构处于壳体内,测杆的上端处于壳体内,其下端向下伸出到壳体的外部并设有与工件接触的测球,并且测杆的上端通过偏摆测量机构连接传感器的动栅,并带动传感器的动栅相对其静栅同步左右摆动;激光线指示装置固定在壳体上,其朝下射出的激光线所处的方向与测杆的测量偏摆方向一致,并用于壳体安装到机床上时校正测量方向及测量时指示测量方向。本发明将原有测杆在二维,三维方向的偏摆测量限制为相对机床主轴中心位置的单方向偏差量测量,并以激光导向技术来加以保证,使得测量精度得以满足要求。

    容栅传感器和绝对位置测量装置
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116481574A

    公开(公告)日:2023-07-25

    申请号:CN202310372235.2

    申请日:2023-04-10

    Abstract: 本发明提供一种容栅传感器和一种绝对位置测量装置,所述容栅传感器包括:第一栅板,其上设置有包括多个第一耦合极的具有第一节距的第一耦合极阵列、与多个第一耦合极电连接的第一反射极、包括多个第二耦合极的具有第二节距的第二耦合极阵列、和与多个第二耦合极电连接的第二反射极,以及第二栅板,其上设置有包括多个发射极子阵列的具有标准节距的发射极阵列和布置在发射极阵列两侧并与其电隔离的第一接收极和第二接收极,发射极子阵列包括多个发射极片,所述第一耦合极和所述第二耦合极的形状相同或相似,所述第一耦合极阵列和所述第二耦合极阵列反向交错排列并在空间上与所述发射极阵列相对,所述第一节距与所述第二节距不相等。

    一种测量范围可调的数显卡规

    公开(公告)号:CN108627063A

    公开(公告)日:2018-10-09

    申请号:CN201810790122.3

    申请日:2018-07-18

    Abstract: 本发明涉及一种测量范围可调的数显卡规,包括卡规本体、传感器和单片机;在测量长度为L1的标准量块时,所述动测量臂相对所述定测量臂形成的夹角为α;所述定测量臂与所述动测量臂的长度均为R;所述单片机还用于对长度R以及夹角α进行标定来调整所述卡规本体的测量范围。本发明的有益效果是:通过调整定测量臂与动测量臂的长度R和/或测量长度为L1时所述动测量臂相对所述定测量臂形成的夹角α,实现卡规测量范围的可调,扩大卡规的适用范围。

    一种测量范围可调的数显卡规

    公开(公告)号:CN108627063B

    公开(公告)日:2024-01-26

    申请号:CN201810790122.3

    申请日:2018-07-18

    Abstract: 本发明涉及一种测量范围可调的数显卡规,包括卡规本体、传感器和单片机;在测量长度为L1的标准量块时,所述动测量臂相对所述定测量臂形成的夹角为α;所述定测量臂与所述动测量臂的长度均为R;所述单片机还用于对长度R以及夹角α进行标定来调整所述卡规本体的测量范围。本发明的有益效果是:通过调整定测量臂与动测量臂的长度R和/或测量长度为L1时所述动测量臂相对所述定测量臂形成的夹角α,实现卡规测量范围的可调,扩大卡规的适用范围。

    一种单轴测量式测头及其测量方法

    公开(公告)号:CN112247670A

    公开(公告)日:2021-01-22

    申请号:CN202011100372.3

    申请日:2020-10-15

    Abstract: 本发明涉及一种单轴测量式测头及其方法,包括壳体、传感器、测杆、偏摆测量机构和激光线指示装置;壳体上端设有安装柄;传感器、偏摆测量机构处于壳体内,测杆的上端处于壳体内,其下端向下伸出到壳体的外部并设有与工件接触的测球,并且测杆的上端通过偏摆测量机构连接传感器的动栅,并带动传感器的动栅相对其静栅同步左右摆动;激光线指示装置固定在壳体上,其朝下射出的激光线所处的方向与测杆的测量偏摆方向一致,并用于壳体安装到机床上时校正测量方向及测量时指示测量方向。本发明将原有测杆在二维,三维方向的偏摆测量限制为相对机床主轴中心位置的单方向偏差量测量,并以激光导向技术来加以保证,使得测量精度得以满足要求。

    一种可快速切换多功能测量装置

    公开(公告)号:CN217210655U

    公开(公告)日:2022-08-16

    申请号:CN202220714484.6

    申请日:2022-03-29

    Abstract: 本实用新型涉及测量技术领域,尤其涉及一种可快速切换多功能测量装置,包括下壳体、拨动开关和测厚活动爪,测厚活动爪与下壳体转动连接,下壳体上设置有固定爪,固定爪的末端与测厚活动爪的末端相互抵持并呈卡钳状设置,拨动开关设置在下壳体的侧方,且与下壳体滑动连接,需要进行厚度测量时,使用拨动开关调整测厚活动爪的状态,通过固定爪与测厚活动爪夹住被测物体实现测量,需要切换其它测量功能时,扳动拨动开关封闭卡钳,再将尺带从下壳体拉出即可进行长度以及围度测量,通过拨动开关的设置提高了工具的易用性。

    一种单轴测量式测头
    9.
    实用新型

    公开(公告)号:CN214054599U

    公开(公告)日:2021-08-27

    申请号:CN202022289701.5

    申请日:2020-10-15

    Abstract: 本实用新型涉及一种单轴测量式测头,包括壳体、传感器、测杆、偏摆测量机构和激光线指示装置;壳体上端设有安装柄;传感器、偏摆测量机构处于壳体内,测杆的上端处于壳体内,其下端向下伸出到壳体的外部并设有与工件接触的测球,并且测杆的上端通过偏摆测量机构连接传感器的动栅,并带动传感器的动栅相对其静栅同步左右摆动;激光线指示装置固定在壳体上,其朝下射出的激光线所处的方向与测杆的测量偏摆方向一致,并用于壳体安装到机床上时校正测量方向及测量时指示测量方向。本实用新型将原有测杆在二维,三维方向的偏摆测量限制为相对机床主轴中心位置的单方向偏差量测量,并以激光导向技术来加以保证,使得测量精度得以满足要求。

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