设备检验系统及其方法
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114495317A

    公开(公告)日:2022-05-13

    申请号:CN202111564762.0

    申请日:2021-12-20

    Abstract: 本申请是关于一种设备检验系统及其方法。该设备检验系统包括身份识别装置,设备检测装置和监控装置;身份识别装置用于获取检测人员的身份信息,并将身份信息发送至监控装置;监控装置用于根据身份信息发起检测人员对应的设备检测事件;设备检测事件包括设备检测数核对功能;设备检测数核对功能用于根据设备检测装置的反馈,统计所述检测人员当前完成的设备检测量,并在所述检测人员结束设备自检流程后核对是否完成预设检测量;设备检测装置用于检测设备的标准参数,并将标准参数的检测结果反馈至所述监控装置中进行数据统计。本申请提供的方案,能够通过身份识别装置、设备检测装置和监控装置的相互配合,有效避免因人为因素造成的漏检情况。

    一种温度集成调控装置及温度集成调控方法

    公开(公告)号:CN111679175A

    公开(公告)日:2020-09-18

    申请号:CN202010571852.1

    申请日:2020-06-20

    Abstract: 本发明提供了一种温度集成调控装置及温度集成调控方法,包括:温度点调节电路模块和温度点调节挡位模块;温度点调节电路模块包括不同待测对象的不同测温点所对应的电阻及其外围电路;温度点调节挡位模块包括多个不同挡位;对于不同待测对象的不同温度所对应的测温点,当选择温度点调节挡位模块中相应的挡位时,温度点调节电路模块中的相应电阻及其外围电路则被使用,以使得温度集成调控装置通过同一电路提供对应于不同待测对象的不同测温点的测试电路。本发明解决了现有的主板测试方法,调试过程费时费力且容易出错的问题,实现测试温度点可以按照预设要求可以进行固定可调,可以防止调试出错,方便、快速的进行调试测试的效果。

    一种温度集成调控装置
    4.
    实用新型

    公开(公告)号:CN212364508U

    公开(公告)日:2021-01-15

    申请号:CN202021163798.9

    申请日:2020-06-20

    Abstract: 本实用新型提供了一种温度集成调控装置,包括:温度点调节电路模块和温度点调节挡位模块;温度点调节电路模块包括不同待测对象的不同测温点所对应的电阻及其外围电路;温度点调节档位模块包括多个不同档位;对于不同待测对象的不同温度所对应的测温点,当选择温度点调节档位模块中相应的档位时,温度点调节电路模块中的相应电阻及其外围电路则被使用,以使得温度集成调控装置通过同一电路提供对应于不同待测对象的不同测温点的测试电路。本实用新型解决了现有的主板测试方法,调试过程费时费力且容易出错的问题,实现测试温度点可以按照预设要求可以进行固定可调,可以防止调试出错,方便、快速的进行调试测试的效果。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

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