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公开(公告)号：CN104458517B
公开(公告)日：2017-06-20
申请号：CN201410766768.X
申请日：2014-12-12
Applicant: 株洲硬质合金集团有限公司
IPC: G01N15/02
Abstract: 本发明涉及一种测量片状金属粉体径厚比的方法，包括：步骤一：使用镶嵌粉制作具有端部平面的承载体；步骤二：在承载体的端部平面上涂布含有片状金属粉体的悬浊液，所述金属粉体分散在液态分散剂中而形成所述悬浊液；步骤三：待分散剂挥发后，将向端部平面上加入镶嵌粉；步骤四：使承载体和镶嵌粉形成一个整体；步骤五：以垂直于端部平面的方向将整体切开而形成穿过端部平面的切开面；步骤六：测量切开面上的多个片状金属粉体的横截面的长宽比，由此得到片状金属粉体的径厚比。根据本发明的方法，能够方便地测得片状金属粉体径厚比，并且所得到的径厚比的精度较高。
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公开(公告)号：CN104458537A
公开(公告)日：2015-03-25
申请号：CN201410798260.8
申请日：2014-12-18
Applicant: 株洲硬质合金集团有限公司
Abstract: 本发明涉及氧化钨粉体比表面积标准样品的表征方法。该方法包括以下步骤：步骤一：从氧化钨粉体中任取n个样品，对n个样品中的每一个测量m次比表面积值，由此形成n个比表面积值组，n、m均为正整数；步骤二：对于具有异常的比表面积值的比表面积值组，重新测量m次比表面积值，直到n个比表面积值组中的每一组均没有异常的比表面积值；步骤三：计算n个比表面积值组的每一组的比表面积平均值，得到具有n个比表面积平均值的平均值组；步骤四：处理平均值组，得到没有异常的比表面积平均值的数组；步骤五：计算得到数组的数组平均值，数组平均值为氧化钨粉体标准样品的比表面积。
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公开(公告)号：CN104458517A
公开(公告)日：2015-03-25
申请号：CN201410766768.X
申请日：2014-12-12
Applicant: 株洲硬质合金集团有限公司
IPC: G01N15/02
Abstract: 本发明涉及一种测量片状金属粉体径厚比的方法，包括：步骤一：使用镶嵌粉制作具有端部平面的承载体；步骤二：在承载体的端部平面上涂布含有片状金属粉体的悬浊液，所述金属粉体分散在液态分散剂中而形成所述悬浊液；步骤三：待分散剂挥发后，将向端部平面上加入镶嵌粉；步骤四：使承载体和镶嵌粉形成一个整体；步骤五：以垂直于端部平面的方向将整体切开而形成穿过端部平面的切开面；步骤六：测量切开面上的多个片状金属粉体的横截面的长宽比，由此得到片状金属粉体的径厚比。根据本发明的方法，能够方便地测得片状金属粉体径厚比，并且所得到的径厚比的精度较高。
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