一种晶闸管芯片门极测试工装

    公开(公告)号:CN105137315A

    公开(公告)日:2015-12-09

    申请号:CN201410230402.0

    申请日:2014-05-28

    Abstract: 本发明公开了一种晶闸管芯片门极测试工装,包括测试夹具,测试夹具包括底座、蝶形定位器、门极顶针、阴极顶针及阴极顶针移动组件,蝶形定位器位于底座的上方,蝶形定位器上开设有用来放置待测试芯片的芯片卡槽,阴极顶针和门极顶针均安装于底座内且位于蝶形定位器的下方,门极顶针位于底座的中部且固定不动,芯片卡槽上设有与门极顶针配合的门极配合孔,阴极顶针安装于阴极顶针移动组件上并可以在阴极顶针移动组件的驱动下沿着蝶形定位器的径向方向运动,芯片卡槽上沿着径向方向开设有供阴极顶针运动的阴极顶针移动槽。本发明具有结构简单紧凑、制作方便、操作简便、可提高测试效率和测试效果等优点。

    一种晶闸管芯片门极测试工装

    公开(公告)号:CN105137315B

    公开(公告)日:2018-04-13

    申请号:CN201410230402.0

    申请日:2014-05-28

    Abstract: 本发明公开了一种晶闸管芯片门极测试工装,包括测试夹具,测试夹具包括底座、蝶形定位器、门极顶针、阴极顶针及阴极顶针移动组件,蝶形定位器位于底座的上方,蝶形定位器上开设有用来放置待测试芯片的芯片卡槽,阴极顶针和门极顶针均安装于底座内且位于蝶形定位器的下方,门极顶针位于底座的中部且固定不动,芯片卡槽上设有与门极顶针配合的门极配合孔,阴极顶针安装于阴极顶针移动组件上并可以在阴极顶针移动组件的驱动下沿着蝶形定位器的径向方向运动,芯片卡槽上沿着径向方向开设有供阴极顶针运动的阴极顶针移动槽。本发明具有结构简单紧凑、制作方便、操作简便、可提高测试效率和测试效果等优点。

    用于晶闸管芯片测试的适配器

    公开(公告)号:CN201689155U

    公开(公告)日:2010-12-29

    申请号:CN201020207692.4

    申请日:2010-05-24

    Abstract: 本实用新型实施例公开了一种用于晶闸管芯片测试的适配器,包括:适配器盖、门极件、塑料王圈和适配器底座,所述适配器盖和适配器底座上分别设置有用于固定所述塑料王圈的凹槽,所述门极件用塑料包裹并穿过所述适配器盖和晶闸管的阴极钼片,与芯片的中心门极连接。本实用新型实施例提供的适配器,在适配器盖和适配器底座上分别设置固定塑料王圈的凹槽,通过塑料王圈对适配器盖和适配器底座加以固定,防止发生相对位移而导致损坏芯片,并将门极件固定在适配器盖中,避免了门极件与芯片发生相对位移,而导致划伤芯片的中心门极,影响芯片的测试参数。

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