涂覆厚度测量装置和包括该涂覆厚度测量装置的涂覆装置

    公开(公告)号:CN117916550A

    公开(公告)日:2024-04-19

    申请号:CN202380013429.1

    申请日:2023-04-25

    Inventor: 李度弦 李承宪

    Abstract: 根据本发明的一个方面的涂覆厚度测量装置涉及构造成对施加到基板上的涂覆材料的厚度进行测量的涂覆厚度测量装置,该基板在卷绕于涂覆辊上的状态下被供给,并且该涂覆厚度测量装置包括涂覆厚度测量模块,该涂覆厚度测量模块包括:光施加部,其用于将光施加至涂覆材料的表面,涂覆材料被施加至基板的卷绕在涂覆辊上的卷绕部分;光获取部,其用于获取从涂覆材料的表面反射的光;以及处理器,其用于基于所获取的光来计算涂覆材料的厚度。

    涂覆厚度测量设备及方法
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117396723A

    公开(公告)日:2024-01-12

    申请号:CN202380011936.1

    申请日:2023-04-25

    Inventor: 李度弦 李承宪

    Abstract: 公开了涂覆厚度测量设备及方法。根据本公开的实施方式的涂覆厚度测量设备包括:数据获取单元,该数据获取单元被配置成在涂覆有涂覆材料的基底由涂覆辊输送时获得厚度数据,该厚度数据指示施用至基底的与涂覆辊接触的接触部分的涂覆材料的厚度;以及处理器,该处理器被配置成创建具有其中分配并存储有校正数据的多个存储区域的虚拟存储器区,并且基于预先存储在目标存储区域中的校正数据来对厚度数据进行校正,以生成校正后的厚度数据,该目标存储区域选自所述多个存储区域。

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