半导体器件
    1.
    发明公开
    半导体器件 审中-实审

    公开(公告)号:CN115700923A

    公开(公告)日:2023-02-07

    申请号:CN202210818484.5

    申请日:2022-07-12

    Abstract: 一种半导体器件包括主元件和感测元件。主元件和感测元件中的每一个包括漂移层、基极层、发射极区、栅极绝缘膜、栅电极和背面层。基极层位于漂移层上。发射极区位于基极层的表面层部分处。栅极绝缘膜布置在基极层的处于发射极区与漂移层之间的表面处。栅电极位于栅极绝缘膜上。背面层面对基极层,漂移层位于背面层与基极层之间。主元件中的背面层包括集电极层。感测元件中的背面层包括具有比集电极层低的杂质量的低杂质层。

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