公开(公告)号：CN103348236B

公开(公告)日：2016-01-13

申请号：CN201280008199.1

申请日：2012-02-08

Applicant: 株式会社普利司通

Inventor： 中村智 ,  黑谷雄司 ,  田边龙朗 ,  五十岚贵亮

IPC: G01N23/225 ,  G01N1/28 ,  G01N33/44

CPC classification number: G01N23/00 ,  G01N1/286 ,  G01N23/225 ,  G01N33/442

Abstract: 提供高分子材料的评价方法，由此高分子材料中的填料的分散状态可被快速并定量地评价。一种高分子材料的评价方法，所述高分子材料包含高分子化合物和填料并且具有平滑表面至少作为其上表面。通过使用聚焦离子束(FIB)(10)，沿相对于高分子材料的表面为1至60°角(α)的方向切割高分子材料(1)。然后，从垂直于平滑表面的方向摄取高分子材料的平滑表面(1A)的图像，所述平滑表面(1A)通过切割而形成。

公开(公告)号：CN103348236A

公开(公告)日：2013-10-09

申请号：CN201280008199.1

申请日：2012-02-08

Applicant: 株式会社普利司通

Inventor： 中村智 ,  黑谷雄司 ,  田边龙朗 ,  五十岚贵亮

IPC: G01N23/225 ,  G01N1/28 ,  G01N33/44

CPC classification number: G01N23/00 ,  G01N1/286 ,  G01N23/225 ,  G01N33/442

Abstract: 本发明提供高分子材料的评价方法，由此高分子材料中的填料的分散状态可被快速并定量地评价。一种高分子材料的评价方法，所述高分子材料包含高分子化合物和填料并且具有平滑表面至少作为其上表面。通过使用聚焦离子束(FIB)(10)，沿相对于高分子材料的表面为1至60°角(α)的方向切割高分子材料(1)。然后，从垂直于平滑表面的方向摄取高分子材料的平滑表面(1A)的图像，所述平滑表面(1A)通过切割而形成。