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公开(公告)号：CN118451477A
公开(公告)日：2024-08-06
申请号：CN202180105138.6
申请日：2021-12-29
Applicant: 株式会社日立高新技术 , 地中海传染医学院
Abstract: 本发明的目的在于提供一种微生物图像解析方法，其能够以电子显微镜的分辨率捕捉微生物个体的微细形态的信息，评价微生物的比率。本发明的一个方式的微生物图像解析方法具备：第一步骤，使用电子显微镜取得对包含微生物的试样进行染色而得到的标本的图像；第二步骤，取得图像的与亮度相关的亮度轮廓图；第三步骤，将轮廓图中的满足与亮度相关的第一条件的第一标准亮度范围设定为第一微生物组存在的区域，将轮廓图中的满足与亮度相关的第二条件的第二标准亮度范围设定为第二微生物组存在的区域；以及第四步骤，分别在第一标准亮度范围及第二标准亮度范围中，算出存在于该范围内的微生物的比率。
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公开(公告)号：CN112400023A
公开(公告)日：2021-02-23
申请号：CN201980042629.3
申请日：2019-03-14
Applicant: 株式会社日立高新技术 , 地中海传染医学院
Abstract: 本发明的目的在于提供一种使微生物药剂敏感性的判定迅速化且通用性高的廉价的检查方法。本发明的一个方式的检查方法包括基于用显微镜观察到的微生物的外观变化来判断该微生物对于抗菌剂的药剂敏感性的步骤。在该判断的步骤中，也可以通过机器学习获取已确认为耐药菌的微生物的多个图像和已确认具有对于抗菌剂的敏感性的微生物的多个图像所涉及的数据库中的多个图像的特征，基于该特征，通过比较微生物的图像与该数据库的图像来进行判断。另外，也可以根据显微镜的视野内的微生物中发生了外观变化的微生物的存在比率来判断。
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公开(公告)号：CN103329240B
公开(公告)日：2015-04-15
申请号：CN201180066230.2
申请日：2011-11-02
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: H01J37/28 , H01J37/18 , H01J37/20 , H01J37/244
CPC classification number: H01J37/16 , H01J37/18 , H01J37/261 , H01J37/28 , H01J2237/164 , H01J2237/2608 , H01J2237/2811
Abstract: 提供一种带电粒子线装置、带电粒子显微镜，即便是大型的试料也可以在大气环境或者气体环境下进行观察。在采用分隔真空环境与大气环境(或气体环境)的薄膜的构成的带电粒子线装置中，具备：收纳带电粒子光学系统的带电粒子光学镜筒；将从该带电粒子光学镜筒射出的一次带电粒子线到达所述薄膜的路径维持为真空环境的箱体；相对于装置设置面支承上述带电粒子光学镜筒与第1箱体的机构，作为该支承机构，采用具有用于搬入大型试料的开放口的箱体、或者支柱等箱体以外的形状的机构。
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公开(公告)号：CN110337707B
公开(公告)日：2021-09-28
申请号：CN201780084642.6
申请日：2017-02-13
Applicant: 株式会社日立高新技术
Abstract: 本发明的目的在于提供一种不使机箱尺寸大型化地用带电粒子线装置和摄像机观察同一视野的装置。本发明的一方案的带电粒子线装置具备向试样(7)照射带电粒子线的镜筒(2)、拍摄试样的光学图像的摄像部(43)、载置试样的试样台(30)、载置试样台且能移动的载物台(6)，构成为，若将试样台的物理性的中心轴与摄像部的物理性的光轴之间的距离定义为第一距离、将试样台的假想性的中心轴与摄像部的物理性的中心轴、或试样台的物理性的中心轴与摄像部的假想性的中心轴、或试样台的假想性的中心轴与摄像部的假想性的中心轴之间的距离定义为第二距离，则第二距离比第一距离短。
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公开(公告)号：CN109075002B
公开(公告)日：2020-09-29
申请号：CN201680084947.2
申请日：2016-04-22
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: H01J37/18 , H01J37/16 , H01J37/244
Abstract: 本发明提供能够在大气中观察二次电子图像的电子显微镜以及观察方法。更具体地，本发明的带电粒子显微镜具有从带电粒子光学镜筒(2)内部的真空空间分离载置试样的非真空空间的隔壁(31)、上部电极(35)、载置试样(100)的下部电极(5)、对上部电极和下部电极中的至少任一方施加电压的电源(21)、调整试样与所述隔壁的间隔的试样间隙调整机构(9)、以及基于在下部电极吸收到的电流来形成所述试样图像的图像形成部(15)。利用在上部电极与下部电极之间施加电压时产生的气体分子与电子的电离碰撞的放大效果，来选择性地测量二次电子。检测方式使用测量在下部电极流过的电流值的方法。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111148989A
公开(公告)日：2020-05-12
申请号：CN201880063448.4
申请日：2018-09-25
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: G01N23/2252 , G06N99/00
Abstract: 提高使用电子显微镜的特定检查的精度，提高作业效率。系统根据检查试样的属性信息确定与检查对象物对应的检查配方信息，通过按照该检查配方信息的控制程序由测量装置取得的图像数据以及元素分析数据与成为检查对象物的评价基准的基准图像数据以及基准元素分析数据的对照，进行检查试样的检查对象物的分析评价。
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公开(公告)号：CN110337707A
公开(公告)日：2019-10-15
申请号：CN201780084642.6
申请日：2017-02-13
Applicant: 株式会社日立高新技术
Abstract: 本发明的目的在于提供一种不使机箱尺寸大型化地用带电粒子线装置和摄像机观察同一视野的装置。本发明的一方案的带电粒子线装置具备向试样(7)照射带电粒子线的镜筒(2)、拍摄试样的光学图像的摄像部(43)、载置试样的试样台(30)、载置试样台且能移动的载物台(6)，构成为，若将试样台的物理性的中心轴与摄像部的物理性的光轴之间的距离定义为第一距离、将试样台的假想性的中心轴与摄像部的物理性的中心轴、或试样台的物理性的中心轴与摄像部的假想性的中心轴、或试样台的假想性的中心轴与摄像部的假想性的中心轴之间的距离定义为第二距离，则第二距离比第一距离短。
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公开(公告)号：CN103858204A
公开(公告)日：2014-06-11
申请号：CN201280048835.3
申请日：2012-09-03
Applicant: 株式会社日立高新技术
CPC classification number: H01J37/18 , H01J37/16 , H01J37/20 , H01J37/22 , H01J37/226 , H01J37/261 , H01J37/28 , H01J2237/166 , H01J2237/182 , H01J2237/2007 , H01J2237/204 , H01J2237/2602 , H01J2237/2608
Abstract: 本发明提供能使用便利性良好地利用带电粒子技术及光学技术可靠地对试样进行检查或观察的检查装置、观察装置。检查或观察装置具备：第一框体(7)，其形成第一空间(11)的至少一部分，该第一空间(11)构成从带电粒子照射部放出的一次带电粒子线到达试样期间的至少一部分的区域且能维持成真空状态；第二框体(121)，其设于该第一框体(7)，形成能收纳所述试样的第二空间(12)的至少一部分；隔壁部(10)，其配置于从所述带电粒子照射部照射出的一次带电粒子线向试样上照射时的所述带电粒子照射部的同轴上，将所述第一空间与所述第二空间隔开；光学式观察部，其对所述试样照射光，从与所述带电粒子照射部相同的方向检测来自所述试样的光。
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公开(公告)号：CN104094373B
公开(公告)日：2016-08-17
申请号：CN201380008021.1
申请日：2013-02-15
Applicant: 株式会社日立高新技术
CPC classification number: H01J37/28 , H01J37/09 , H01J37/16 , H01J37/18 , H01J2237/0451 , H01J2237/06341 , H01J2237/10 , H01J2237/1405 , H01J2237/164 , H01J2237/2608 , H01J2237/2801
Abstract: 本发明提供能简单地装拆隔膜(101)且能将试样(6)配置于真空下和高压下的带电粒子线装置(111)。该带电粒子线装置(111)具有：对带电粒子源(110)和电子光学系统(1、2、7)进行保持的镜筒(3)；与镜筒(3)连结的第一框体(4)；向第一框体(4)的内侧凹陷的第二框体(100)；将镜筒(3)内的空间和第一框体(4)内的空间隔离且供带电粒子线透过的第一隔膜(10)；将第二框体(100)的凹部(100a)内的空间和第二框体(100)的凹部(100a)外的空间隔离且供带电粒子线透过的第二隔膜(101)；与收纳带电粒子源(110)的第三框体(22)连结的管(23)，第一隔膜(10)安装于管(23)，管(23)和第三框体(22)能沿光轴(30)的方向相对于镜筒(3)装拆。由第一框体(4)和第二框体(100)包围的空间(105)被减压，对配置于凹部(100a)中的试样(6)照射带电粒子线。
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公开(公告)号：CN103858204B
公开(公告)日：2016-06-08
申请号：CN201280048835.3
申请日：2012-09-03
Applicant: 株式会社日立高新技术
CPC classification number: H01J37/18 , H01J37/16 , H01J37/20 , H01J37/22 , H01J37/226 , H01J37/261 , H01J37/28 , H01J2237/166 , H01J2237/182 , H01J2237/2007 , H01J2237/204 , H01J2237/2602 , H01J2237/2608
Abstract: 本发明提供能使用便利性良好地利用带电粒子技术及光学技术可靠地对试样进行检查或观察的检查装置、观察装置。检查或观察装置具备：第一框体(7)，其形成第一空间(11)的至少一部分，该第一空间(11)构成从带电粒子照射部放出的一次带电粒子线到达试样期间的至少一部分的区域且能维持成真空状态；第二框体(121)，其设于该第一框体(7)，形成能收纳所述试样的第二空间(12)的至少一部分；隔壁部(10)，其配置于从所述带电粒子照射部照射出的一次带电粒子线向试样上照射时的所述带电粒子照射部的同轴上，将所述第一空间与所述第二空间隔开；光学式观察部，其对所述试样照射光，从与所述带电粒子照射部相同的方向检测来自所述试样的光。
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