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公开(公告)号：CN102047095A
公开(公告)日：2011-05-04
申请号：CN200980120524.1
申请日：2009-05-12
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: G01N15/14
CPC classification number: G01N15/1459 , G01N15/1463 , G01N15/147 , G01N33/493 , G01N2015/1409
Abstract: 本发明提供一种粒子图像解析方法以及图像解析装置。其实现不用较大地改变装置结构，使用截取的粒子成分提高审查的效率，同时能够观察整体试样的粒子图像解析方法。在审查拍摄区域整体的图像前审查截取图像，对于每一成分由操作员观察汇总的图像，使用操作部把判别为误识别的粒子修正为正确的成分的项目(步骤101)。接着，显示拍摄区域整体的图像，在出现要追加的成分(漏掉的成分)的情况下，确定其成分，登录其个数(步骤102、103)。在登录时通过运算处理部(283)再计算相应检体的浓度(步骤104)。最后，通过操作部(60)在注释栏中输入注释(步骤105)。
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公开(公告)号：CN102472705B
公开(公告)日：2014-05-07
申请号：CN201080032816.2
申请日：2010-07-23
Applicant: 株式会社日立高新技术
CPC classification number: G01N15/1404 , G01N1/30 , G01N15/1459 , G01N35/00613 , G01N2015/1409 , G01N2015/1465
Abstract: 在现有的流动方式的粒子分析装置中，无法以廉价并且简单的方式，检测样品的遗漏、样品不足、试剂的不足等人为的错误和流路系统的异常的双方。在本发明的在样品测量时取得的摄影图像(110)的图像处理中，设置以下的部件：图像处理单元(110a)，与用于进行对象粒子的分类处理的通常的图像处理并行地，对每张图像计算图像全体的RGB浓度分布信息；异常状态判断处理单元(110c)，根据RGB浓度分布的倾向，判断所摄影的图像是否为异常状态；异常判断处理单元，在对一个样品的全部测量结束了的时刻，计算异常图像的出现频度，最终判断有无异常，由此，不该现有的装置结构，就实现了与通常分析并行的异常诊断。
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公开(公告)号：CN102460115B
公开(公告)日：2014-11-05
申请号：CN201080024498.5
申请日：2010-05-17
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: G01N15/14
CPC classification number: G01N15/1459 , G01N2015/1452
Abstract: 能够高精度并且高效地进行聚焦点调整，高精度地检查聚焦点位置的偏离、样本液的流动的厚度。在多个不同的焦点位置上，根据由均匀的物质构成的标准粒子的图像取得调焦用参数值。作为标准粒子图像的中心附近的浓度值与轮廓附近的浓度值的比或差、或者中心附近的浓度值来求出调焦用参数值。根据得到的调焦用参数值与焦点位置的关系，调整聚焦点位置。另外，根据调焦用参数值与焦点位置的关系，将参数值换算为焦点位置，根据焦点位置及其波动，检查聚焦点位置的偏离和样本液的厚度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102472705A
公开(公告)日：2012-05-23
申请号：CN201080032816.2
申请日：2010-07-23
Applicant: 株式会社日立高新技术
CPC classification number: G01N15/1404 , G01N1/30 , G01N15/1459 , G01N35/00613 , G01N2015/1409 , G01N2015/1465
Abstract: 在现有的流动方式的粒子分析装置中，无法以廉价并且简单的方式，检测样品的遗漏、样品不足、试剂的不足等人为的错误和流路系统的异常的双方。在本发明的在样品测量时取得的摄影图像(110)的图像处理中，设置以下的部件：图像处理单元(110a)，与用于进行对象粒子的分类处理的通常的图像处理并行地，对每张图像计算图像全体的RGB浓度分布信息；异常状态判断处理单元(110c)，根据RGB浓度分布的倾向，判断所摄影的图像是否为异常状态；异常判断处理单元，在对一个样品的全部测量结束了的时刻，计算异常图像的出现频度，最终判断有无异常，由此，不该现有的装置结构，就实现了与通常分析并行的异常诊断。
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公开(公告)号：CN102985807B
公开(公告)日：2015-11-25
申请号：CN201180034012.0
申请日：2011-07-08
Applicant: 株式会社日立高新技术
CPC classification number: G01N21/53 , G01N15/1012 , G01N15/1459 , G01N21/25 , G01N21/64
Abstract: 在使用了分光单元和多检测器的流式细胞仪中，辅助进行实时的荧光强度测定前的最佳的波长频带设定。在信号处理单元中，存储测定校准试样而得到的多个波长频带的强度，计算、显示所述多个波长频带的每个波长频带的强度的分布。
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公开(公告)号：CN102047095B
公开(公告)日：2013-04-24
申请号：CN200980120524.1
申请日：2009-05-12
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: G01N15/14
CPC classification number: G01N15/1459 , G01N15/1463 , G01N15/147 , G01N33/493 , G01N2015/1409
Abstract: 本发明提供一种粒子图像解析方法以及图像解析装置。其实现不用较大地改变装置结构，使用截取的粒子成分提高审查的效率，同时能够观察整体试样的粒子图像解析方法。在审查拍摄区域整体的图像前审查截取图像，对于每一成分由操作员观察汇总的图像，使用操作部把判别为误识别的粒子修正为正确的成分的项目(步骤101)。接着，显示拍摄区域整体的图像，在出现要追加的成分(漏掉的成分)的情况下，确定其成分，登录其个数(步骤102、103)。在登录时通过运算处理部(283)再计算相应检体的浓度(步骤104)。最后，通过操作部(60)在注释栏中输入注释(步骤105)。
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公开(公告)号：CN102985807A
公开(公告)日：2013-03-20
申请号：CN201180034012.0
申请日：2011-07-08
Applicant: 株式会社日立高新技术
CPC classification number: G01N21/53 , G01N15/1012 , G01N15/1459 , G01N21/25 , G01N21/64
Abstract: 在使用了分光单元和多检测器的流式细胞仪中，辅助进行实时的荧光强度测定前的最佳的波长频带设定。在信号处理单元中，存储测定校准试样而得到的多个波长频带的强度，计算、显示所述多个波长频带的每个波长频带的强度的分布。
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公开(公告)号：CN102460115A
公开(公告)日：2012-05-16
申请号：CN201080024498.5
申请日：2010-05-17
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: G01N15/14
CPC classification number: G01N15/1459 , G01N2015/1452
Abstract: 能够高精度并且高效地进行聚焦点调整，高精度地检查聚焦点位置的偏离、样本液的流动的厚度。在多个不同的焦点位置上，根据由均匀的物质构成的标准粒子的图像取得调焦用参数值。作为标准粒子图像的中心附近的浓度值与轮廓附近的浓度值的比或差、或者中心附近的浓度值来求出调焦用参数值。根据得到的调焦用参数值与焦点位置的关系，调整聚焦点位置。另外，根据调焦用参数值与焦点位置的关系，将参数值换算为焦点位置，根据焦点位置及其波动，检查聚焦点位置的偏离和样本液的厚度。
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