-
公开(公告)号:CN107533079A
公开(公告)日:2018-01-02
申请号:CN201680022150.X
申请日:2016-04-07
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: G01N35/10
CPC classification number: G01N35/1009 , G01N21/31 , G01N35/10 , G01N35/1004 , G01N2035/00237
Abstract: 具备试样分注机构(12),该试样分注机构(12)具备试样喷嘴(12a),试样喷嘴(12a)通过对作为分析对象的试样进行吸引及排出而将试样容器(15)中的试样分注至反应容器(2),控制试样分注机构(12)执行:将试样喷嘴(12a)插入到试样容器(15)中吸引试样容器(15)中的试样的试样吸引处理;在试样吸引处理之后通过试样喷嘴(12a)吸引液体的液体吸引处理;以及从试样喷嘴(12a)以液体、试样的一部分的顺序向空的反应容器(2)排出液体和试样的一部分的排出处理。由此,能够提供一种自动分析装置及方法,能够与试样喷嘴的外形、试样的粘性无关地对微量的试样高精度地进行分注。
-
公开(公告)号:CN108780102A
公开(公告)日:2018-11-09
申请号:CN201780017289.X
申请日:2017-01-31
Applicant: 株式会社日立高新技术
Abstract: 本发明提供能自动地测定探针、搅拌件等的水带入量并容易地确认在具备水滴除去机构的情况下是否正常地发挥功能的自动分析装置。具备探针或与液体接触来进行搅拌的搅拌件等清洗对象部件、用清洗液清洗清洗对象部件的清洗槽、及测定收纳于反应盒的评价用试剂的光学特性的测定部,控制部使在清洗槽中清洗后的清洗对象部件与评价用试剂接触,并使测定部测定评价用试剂的接触后的光学特性,并基于测定出的光学特性来计算清洗对象部件将清洗液带入反应盒的带入量。
-
公开(公告)号:CN108780102B
公开(公告)日:2022-05-17
申请号:CN201780017289.X
申请日:2017-01-31
Applicant: 株式会社日立高新技术
Abstract: 本发明提供能自动地测定探针、搅拌件等的水带入量并容易地确认在具备水滴除去机构的情况下是否正常地发挥功能的自动分析装置。具备探针或与液体接触来进行搅拌的搅拌件等清洗对象部件、用清洗液清洗清洗对象部件的清洗槽、及测定收纳于反应盒的评价用试剂的光学特性的测定部,控制部使在清洗槽中清洗后的清洗对象部件与评价用试剂接触,并使测定部测定评价用试剂的接触后的光学特性,并基于测定出的光学特性来计算清洗对象部件将清洗液带入反应盒的带入量。
-
公开(公告)号:CN107533079B
公开(公告)日:2021-06-29
申请号:CN201680022150.X
申请日:2016-04-07
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: G01N35/10
Abstract: 具备试样分注机构(12),该试样分注机构(12)具备试样喷嘴(12a),试样喷嘴(12a)通过对作为分析对象的试样进行吸引及排出而将试样容器(15)中的试样分注至反应容器(2),控制试样分注机构(12)执行:将试样喷嘴(12a)插入到试样容器(15)中吸引试样容器(15)中的试样的试样吸引处理;在试样吸引处理之后通过试样喷嘴(12a)吸引液体的液体吸引处理;以及从试样喷嘴(12a)以液体、试样的一部分的顺序向空的反应容器(2)排出液体和试样的一部分的排出处理。由此,能够提供一种自动分析装置及方法,能够与试样喷嘴的外形、试样的粘性无关地对微量的试样高精度地进行分注。
-
公开(公告)号:CN119678052A
公开(公告)日:2025-03-21
申请号:CN202380058151.X
申请日:2023-07-19
Applicant: 株式会社日立高新技术 , F.霍夫曼-拉罗驰股份公司
Abstract: 一种容器保管装置(101),其经由搬运架子的搬运路径与自动分析装置连接,其具有:保管试样容器的保管库(204);在保管库与架子(203)之间进行试样容器的交换的容器搬运机构(208);以及控制部,搬运路径在从容器保管装置朝向自动分析装置的方向上搬运架子,架子具备设置试样容器的多个容器设置位置,控制部进行控制,使得在能够搬出多个收纳有从自动分析装置进行了测定请求的试样的搬出对象试样容器之后,针对多个搬出对象试样容器决定搬出优先级,将搬出优先级更高的搬出对象试样容器搭载在架子中的搬运路径的搬运方向侧的容器设置位置。由此,降低用户放入试样的负担,并且提高自动分析装置的测定效率。
-
公开(公告)号:CN114846333A
公开(公告)日:2022-08-02
申请号:CN202080085217.0
申请日:2020-12-10
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: G01N35/00
Abstract: 本发明的目的在于,提供即使是需要大量的精度管理样品的情况也抑制了精度管理所需的时间的自动分析系统。因此,本发明的自动分析系统具备:多个分析装置(190);连接分析装置(190)的运送部(120);和操作运送部(120)来向分析装置(190)运送样品的操作部(101),在该自动分析系统中,具有保管能向多个分析装置(190)供给的精度管理样品的共通的保管库(210),操作部(101)遵循按多个分析装置(190)的每一者预先登记的规则来操作保管库(210),将精度管理样品自动向分析装置(190)运送。
-
公开(公告)号:CN116635317A
公开(公告)日:2023-08-22
申请号:CN202180085085.6
申请日:2021-11-10
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: B65G54/02
Abstract: 在搬送装置(501)中,根据由位置检测部(110)检测出的搬送容器(102)的位置求出搬送容器(102)的一般搬送速度,判定一般搬送速度是否异常,在判定为一般搬送速度异常时搬送检修搬送容器(105),基于检修搬送容器(105)的搬送速度判别一般搬送速度异常的原因。由此,提供能够比以往更迅速地判别搬送速度异常的原因的检体搬送装置以及检体的搬送方法。
-
-
-
-
-
-