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公开(公告)号:CN107850546B
公开(公告)日:2020-05-12
申请号:CN201680042090.8
申请日:2016-07-13
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: G01N21/76
Abstract: 本发明的发光分析用检测装置的SN比以及光检测效率较高、并且能防止光学滤光片的破损、高反射导光系统或者光学滤光片的中心轴相对于光检测器、窗材偏移。在发光分析用检测装置中,高反射导光系统(201)具有对从与窗材(104)相对的入射口射入的由试料发出的光进行反射并传输至与光检测器(106)的受光面相对的出射口的高反射导光面。光学滤光片(203)设置于被窗材(104)、光检测器(106)以及高反射导光系统(201)所包围的空间,使从试料发出的测定对象的信号发光透过窗材(104)与光检测器(106)之间。利用粘结材料(401)将光学滤光片(203)固定于窗材(104)或光检测器(106),光学滤光片(203)的外周形状小于形成于高反射导光系统(201)的对光学滤光片(203)进行嵌合的嵌合部的内侧形状。
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公开(公告)号:CN107406815A
公开(公告)日:2017-11-28
申请号:CN201680018671.8
申请日:2016-03-28
Applicant: 株式会社日立高新技术
Abstract: 本发明的感受性测量装置包括:平台,该平台对样本容器进行载放;温度调整装置,该温度调整装置具备配置于所述样本容器的上下的上侧加温体和下侧加温体;以及拍摄装置,该拍摄装置具备照明设备和拍摄设备,用于对所述样本容器进行拍摄,所述上侧加温体和所述下侧加温体分别包括以下构造:作为周边部的第1区域的温度比包含中央部的第2区域的温度要高。
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公开(公告)号:CN107850546A
公开(公告)日:2018-03-27
申请号:CN201680042090.8
申请日:2016-07-13
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: G01N21/76
Abstract: 本发明的发光分析用检测装置的SN比以及光检测效率较高、并且能防止光学滤光片的破损、高反射导光系统或者光学滤光片的中心轴相对于光检测器、窗材偏移。在发光分析用检测装置中,高反射导光系统(201)具有对从与窗材(104)相对的入射口射入的由试料发出的光进行反射并传输至与光检测器(106)的受光面相对的出射口的高反射导光面。光学滤光片(203)设置于被窗材(104)、光检测器(106)以及高反射导光系统(201)所包围的空间,使从试料发出的测定对象的信号发光透过窗材(104)与光检测器(106)之间。利用粘结材料(401)将光学滤光片(203)固定于窗材(104)或光检测器(106),光学滤光片(203)的外周形状小于形成于高反射导光系统(201)的对光学滤光片(203)进行嵌合的嵌合部的内侧形状。
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