-
公开(公告)号：CN101996574A
公开(公告)日：2011-03-30
申请号：CN201010246796.0
申请日：2010-08-04
IPC: G09G3/32
CPC classification number: G09G3/3291 , G09G3/3258 , G09G2300/0819 , G09G2300/0842 , G09G2300/0861 , G09G2310/0205 , G09G2310/066 , G09G2320/043
Abstract: 本发明提供一种显示装置及其驱动方法。在矩阵状地排列有具有自发光元件以及驱动晶体管的像素的显示装置中，减轻由于驱动晶体管的特性的变动、在发光后进行的后续的数据写入的条件的差异而引起的自发光元件的驱动电流的偏差来提高显示画质。数据线驱动电路在第1期间中，向数据线输出显示信号电压。像素以与驱动晶体管的特性对应的电压为基准而保持显示信号电压。在第2期间中将控制驱动晶体管的控制电压输出到数据线。驱动晶体管产生与控制电压和所保持的信号电压对应的驱动电流，使自发光元件发光。在第2期间之后，设置向数据线输出将驱动晶体管的控制端子设定成规定的校正电压的电压信号的第3期间。第1期间接在该第3期间后。
-
公开(公告)号：CN101483031B
公开(公告)日：2012-01-11
申请号：CN200910002220.7
申请日：2009-01-08
Applicant: 株式会社日立显示器 , 松下液晶显示器株式会社
IPC: G09G3/32
CPC classification number: G09G3/3233 , G09G2300/0814 , G09G2320/0295 , G09G2320/041 , G09G2320/045 , G09G2320/046
Abstract: 本发明提供一种有机EL显示装置，不伴随电路规模和功耗的增大而进行OLED元件的温度特性检测和余像特性检测。在图1的检测部(300)中，进行OLED元件的温度特性和余像特性的检测。由温度引起的OLED元件的端子电压变化较大为数V，由余像引起的OLED元件的端子电压变换较小为数mV～数十mV。使余像特性的检测数据通过第一路径(310)，使温度特性的检测数据通过第二路径(320)并使之衰减，由此能够使用温度检测和余像检测都相同的模拟-数字变换器ADC。由此防止检测电路的电路规模的增大和功耗的增大。根据本发明能够获得校正了温度特性和余像特性的图像。
-
公开(公告)号：CN101266528B
公开(公告)日：2011-09-28
申请号：CN200810009488.9
申请日：2008-02-03
Applicant: 株式会社日立显示器 , 松下液晶显示器株式会社
CPC classification number: G09G3/3225 , G06F3/0412 , G09G3/3233 , G09G3/3275 , G09G5/18 , G09G2300/0465 , G09G2300/0842 , G09G2320/029 , G09G2320/0295 , G09G2320/041
Abstract: 本发明的图像显示装置，在自发光元件中设置直接连接恒流源的开关，能够进行自发光元件的特性检测、坐标生成，通过将该信息变换为系统通信信号，从而将伴随温度变动的输入传输给系统方。
-
公开(公告)号：CN101261803B
公开(公告)日：2010-06-16
申请号：CN200710159738.2
申请日：2007-12-21
Applicant: 株式会社日立显示器
CPC classification number: G09G3/3233 , G09G2300/0809 , G09G2320/0285 , G09G2320/046 , G09G2330/08 , G09G2330/10
Abstract: 本发明提供一种有机EL显示装置，在该有机EL显示装置中能够正确地测定画面的余像现象，并对图像数据进行修正，从而形成正确的图像。测定特定像素(PX)的电压-电流特性，将1行量的数据存储在行存储器(MR1)中。特性数据的比较是用相邻的像素彼此进行比较。由故障判断部(81)中检测进行比较的像素是否为缺陷像素，若是缺陷像素，就从比较的对象中排除。在余像判断部(82)中，仅比较正常像素，获得正确的余像数据。在运算部(9)中，将该余像数据反映到来自主机的图像数据中。
-
公开(公告)号：CN101183506B
公开(公告)日：2010-06-02
申请号：CN200710180975.7
申请日：2007-10-10
Applicant: 株式会社日立显示器
CPC classification number: G09G3/3291 , G09G3/3258 , G09G2300/0819 , G09G2300/0842 , G09G2300/0861 , G09G2310/0259 , G09G2310/066 , G09G2320/041 , G09G2320/045 , G09G2320/046 , G09G2320/048
Abstract: 本发明提供一种显示装置。本发明根据有机EL等自发光元件的劣化来控制发光时间，由此消除残像图案。每一象素的驱动晶体管31，利用写入信号电压和三角波信号来控制有机EL36的发光时间。与由有机EL36的温度变化或老化引起的特性变动无关系地将写入信号电压写入到写入电容30，由此在有机EL36的内部电阻增加而导致的劣化时，延长有机EL36的发光时间，来补偿由劣化所引起的亮度降低。结果，将会消除固定图案的残像。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101546515B
公开(公告)日：2011-07-27
申请号：CN200910002078.6
申请日：2009-01-16
Applicant: 株式会社日立显示器
IPC: G09G3/30
CPC classification number: G09G3/3233 , G09G3/3426 , G09G2300/0842 , G09G2310/0275 , G09G2320/0233 , G09G2320/0285 , G09G2320/029 , G09G2320/041 , G09G2320/043 , G09G2330/028
Abstract: 本发明提供一种图像显示装置，其具有消除余象现象的电路而不使其规模增大。本发明的图像显示装置，包括由多个显示元件构成的显示部、向该显示部输入显示信号电压的信号线、以及对该显示信号电压进行控制的显示控制部，包括：检测用电源；切换开关，使上述检测用电源的电流流经上述显示元件；检测电路，检测流经上述显示元件的电流；以及检测信息存储电路，存储由上述检测电路检测出的信息并利用该信息来修正上述显示信号电压，其中，上述检测电路在利用第一基准电压设定第一电流测量范围而进行了电流检测之后，通过反馈检测出的电流量，来利用与上述第一基准电压不同的第二基准电压设定第二电流测量范围而进行电流检测。
-
公开(公告)号：CN101393720A
公开(公告)日：2009-03-25
申请号：CN200810213136.5
申请日：2008-09-18
Applicant: 株式会社日立显示器
CPC classification number: G09G3/3233 , G09G3/3291 , G09G2300/0842 , G09G2310/0251 , G09G2320/0285 , G09G2320/043
Abstract: 本发明提供一种图像显示装置，包括：分别具有电流驱动型的发光元件的多个像素；向各像素输入图像电压的多条信号线；以及从多个像素中选择经由多条信号线写入图像电压的像素的像素选择单元，其中，像素选择单元具有多条检测栅极线，各像素具有：第一电极与电源线相连接且第二电极与发光元件的一端相连接的驱动晶体管；和第一电极与发光元件的一端相连接且第二电极与信号线中的对应的信号线相连接的检测晶体管，各像素的发光元件的另一端与基准电位相连接，检测晶体管的栅电极与多条检测栅极线中的对应的检测栅极线相连接，检测晶体管在检测期间导通。能够抑制成本的上升，并且能够对呈矩阵状配置的各个发光元件的发光效率的降低进行检测。
-
公开(公告)号：CN101266528A
公开(公告)日：2008-09-17
申请号：CN200810009488.9
申请日：2008-02-03
Applicant: 株式会社日立显示器
CPC classification number: G09G3/3225 , G06F3/0412 , G09G3/3233 , G09G3/3275 , G09G5/18 , G09G2300/0465 , G09G2300/0842 , G09G2320/029 , G09G2320/0295 , G09G2320/041
Abstract: 本发明的图像显示装置，在自发光元件中设置直接连接恒流源的开关，能够进行自发光元件的特性检测、坐标生成，通过将该信息变换为系统通信信号，从而将伴随温度变动的输入传输给系统方。
-
公开(公告)号：CN101261803A
公开(公告)日：2008-09-10
申请号：CN200710159738.2
申请日：2007-12-21
Applicant: 株式会社日立显示器
CPC classification number: G09G3/3233 , G09G2300/0809 , G09G2320/0285 , G09G2320/046 , G09G2330/08 , G09G2330/10
Abstract: 本发明提供一种有机EL显示装置，在该有机EL显示装置中能够正确地测定画面的余像现象，并对图像数据进行修正，从而形成正确的图像。测定特定像素(PX)的电压－电流特性，将1行量的数据存储在行存储器(MR1)中。特性数据的比较是用相邻的像素彼此进行比较。由故障判断部(81)中检测进行比较的像素是否为缺陷像素，若是缺陷像素，就从比较的对象中排除。在余像判断部(82)中，仅比较正常像素，获得正确的余像数据。在运算部(9)中，将该余像数据反映到来自主机的图像数据中。
-
公开(公告)号：CN101551971B
公开(公告)日：2011-11-16
申请号：CN200910129902.4
申请日：2009-04-01
Applicant: 株式会社日立显示器
IPC: G09G3/32
CPC classification number: G09G3/3275 , G09G2310/0218 , G09G2310/04 , G09G2320/0233 , G09G2330/028
Abstract: 提供一种不增大检测电路的规模而能够对随着显示部的面内倾斜或分散而劣化的像素的显示进行校正的显示装置。显示装置具有显示部和信号线，该显示部由发光量根据电流量而发生变化的多个像素构成，该信号线用于对上述像素输入显示信号电压，上述显示装置具备：开关电路，其通过上述信号线的切换，输出通过向上述像素提供电源而得到的与上述像素的像素状态对应的信号；以及A/D变换器，其沿着上述显示部的水平线上依次检测与上述像素的像素状态对应的信号，其中，上述A/D变换器构成为具备变更其参考电压的电路，按将上述水平线上的像素数分割为多个的每个块而检测与其块内的各像素的像素状态对应的信号。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
21
records
(took 0.031 seconds)
