吸光式分析仪
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN100343653C

    公开(公告)日:2007-10-17

    申请号:CN200410079790.3

    申请日:2004-09-13

    Abstract: 本发明的多种成分的吸光式分析仪,具有通用性好、高测定精度。其构成要素包括光源部、试样容器部及多个检测器,特征在于,在上述光源部和1个检测器的中间,设置内壁面相对于光路有小于180°的角度、有不同光路开口直径的集光部件,在上述光学部件的内壁面具有从上述光源部导出一部分光的导出部位、即光导出口,从该光导出口导出的光入射到其他检测器。这里,最好是集光部件位于光源部和试样容器部的中间。而且最好将用于其他检测器的光学元件设置于光导出口,并靠近由集光部件形成的光路进行配置。

    排气测定装置和排气测定方法

    公开(公告)号:CN101660982B

    公开(公告)日:2015-04-15

    申请号:CN200910170685.3

    申请日:2009-08-28

    CPC classification number: G01N1/2258

    Abstract: 本发明提供一种排气测定装置和排气测定方法,其不受排气中所含有的粉尘成分、酸性雾等的影响,即使是高温熔炉等,也能长期进行稳定性高的连续测定。该排气测定装置包括:导入排气的试样导入部(包括试样采集部(1)和加热导管(2));凝集排气中的粉尘成分的冷却部(包括湿式过滤器(WF1));填充有由高分子材料构成的过滤器部件的过滤器柱(3),该高分子材料对粉尘成分进行捕捉;雾洗涤器(5),其设在粉尘过滤器(3)的下游,并填充有对排气中的酸性雾进行去除的吸附剂;以及分析计(7),其导入经过这些清洁处理的处理气体,并对排气中的特定成分进行测定。

    排气测定装置和排气测定方法

    公开(公告)号:CN101660982A

    公开(公告)日:2010-03-03

    申请号:CN200910170685.3

    申请日:2009-08-28

    CPC classification number: G01N1/2258

    Abstract: 本发明提供一种排气测定装置和排气测定方法,其不受排气中所含有的粉尘成分、酸性雾等的影响,即使是高温熔炉等,也能长期进行稳定性高的连续测定。该排气测定装置包括:导入排气的试样导入部(包括试样采集部(1)和加热导管(2));凝集排气中的粉尘成分的冷却部(包括湿式过滤器(WF1));填充有由高分子材料构成的过滤器部件的过滤器柱(3),该高分子材料对粉尘成分进行捕捉;雾洗涤器(5),其设在粉尘过滤器(3)的下游,并填充有对排气中的酸性雾进行去除的吸附剂;以及分析计(7),其导入经过这些清洁处理的处理气体,并对排气中的特定成分进行测定。

    吸光式分析仪
    8.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1605854A

    公开(公告)日:2005-04-13

    申请号:CN200410079790.3

    申请日:2004-09-13

    CPC classification number: G01N21/3504 G01N21/05 G01N21/276

    Abstract: 本发明的多种成分的吸光式分析仪,具有通用性好、高测定精度。其构成要素包括光源部、试样容器部及多个检测器,特征在于,在上述光源部和1个检测器的中间设置集光部件,在上述光学部件的内壁面具有从上述光源部导出一部分光的导出部位、即光导出口,从该光导出口导出的光入射到其他检测器。这里,最好是集光部件位于光源部和试样容器部的中间。而且最好将用于其他检测器的光学元件设置于光导出口,并靠近由集光部件形成的光路进行配置。

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