公开(公告)号：CN111829967B

公开(公告)日：2024-03-12

申请号：CN202010235581.2

申请日：2020-03-30

Applicant: 株式会社堀场先进技术

Inventor： 斧田拓也 ,  横山一成 ,  世古朋子

IPC: G01N21/31 ,  G01N21/01

Abstract: 本发明提供光学分析装置，通过在试样测量和参考测量中使光路长度维持相同，提高测量精度，分析流过具有透光性的配管(H)的试样的光学分析装置(100)具备：具有光源(21)和聚光透镜(22)的光源单元(2)；检测光源单元(2)的光的光检测单元(3)；以及将光源单元(2)和光检测单元(3)支撑成可移动的支撑机构(4)，支撑机构(4)使光源单元(2)和光检测单元(3)在试样测量位置(S)和参考测量位置(R)之间移动。

公开(公告)号：CN118215836A

公开(公告)日：2024-06-18

申请号：CN202280073109.0

申请日：2022-10-27

Applicant: 株式会社堀场先进技术

Inventor： 中原达也 ,  斧田拓也 ,  土生一德

IPC: G01N21/27 ,  G01N21/3577 ,  G01N21/59 ,  G01N27/06 ,  G01N27/27 ,  G01N27/416

Abstract: 本发明提供成分浓度测定装置、成分浓度测定程序以及成分浓度测定方法，精度良好地求出液体样本的测定对象成分的浓度。成分浓度测定装置包括：光学测量部(2)，测量液体样本的分光光谱；电化学测量部(3)，对液体样本的特性值进行电化学测量；以及浓度计算部(41)，通过将分光光谱以及特性值设为解释变量的多变量分析，来算出测定对象成分的浓度。

公开(公告)号：CN111829967A

公开(公告)日：2020-10-27

申请号：CN202010235581.2

申请日：2020-03-30

Applicant: 株式会社堀场先进技术

Inventor： 斧田拓也 ,  横山一成 ,  世古朋子

IPC: G01N21/31 ,  G01N21/01

Abstract: 本发明提供光学分析装置，通过在试样测量和参考测量中使光路长度维持相同，提高测量精度，分析流过具有透光性的配管(H)的试样的光学分析装置(100)具备：具有光源(21)和聚光透镜(22)的光源单元(2)；检测光源单元(2)的光的光检测单元(3)；以及将光源单元(2)和光检测单元(3)支撑成可移动的支撑机构(4)，支撑机构(4)使光源单元(2)和光检测单元(3)在试样测量位置(S)和参考测量位置(R)之间移动。