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公开(公告)号：CN111829967B
公开(公告)日：2024-03-12
申请号：CN202010235581.2
申请日：2020-03-30
Applicant: 株式会社堀场先进技术
Abstract: 本发明提供光学分析装置，通过在试样测量和参考测量中使光路长度维持相同，提高测量精度，分析流过具有透光性的配管(H)的试样的光学分析装置(100)具备：具有光源(21)和聚光透镜(22)的光源单元(2)；检测光源单元(2)的光的光检测单元(3)；以及将光源单元(2)和光检测单元(3)支撑成可移动的支撑机构(4)，支撑机构(4)使光源单元(2)和光检测单元(3)在试样测量位置(S)和参考测量位置(R)之间移动。
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公开(公告)号：CN110231290A
公开(公告)日：2019-09-13
申请号：CN201910133464.2
申请日：2019-02-22
Applicant: 株式会社堀场先进技术
Abstract: 本发明提供光学测量池、光学分析仪和光学测量池的制造方法。为了在透光构件上形成防止与试样接触的覆盖膜并防止覆盖膜剥离，光学测量池包括夹着收容被检测液体的内部空间的第一透光构件和第二透光构件，射入第一透光构件的光通过内部空间并从第二透光构件射出，其还包括：第一按压构件，在第一透光构件的朝向光射入侧的向外的面上按压光透过的光透射区域的周围；第二按压构件，在第二透光构件的朝向光射出侧的向外的面上按压光透过的光透射区域的周围；密封构件，介于第一透光构件和第一按压构件之间、第二透光构件和第二按压构件之间，在各透光构件的表面的除了一部分以外的区域上覆盖有覆盖膜，覆盖膜的端部位于比密封构件更靠光透射区域侧。
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公开(公告)号：CN111829967A
公开(公告)日：2020-10-27
申请号：CN202010235581.2
申请日：2020-03-30
Applicant: 株式会社堀场先进技术
Abstract: 本发明提供光学分析装置，通过在试样测量和参考测量中使光路长度维持相同，提高测量精度，分析流过具有透光性的配管(H)的试样的光学分析装置(100)具备：具有光源(21)和聚光透镜(22)的光源单元(2)；检测光源单元(2)的光的光检测单元(3)；以及将光源单元(2)和光检测单元(3)支撑成可移动的支撑机构(4)，支撑机构(4)使光源单元(2)和光检测单元(3)在试样测量位置(S)和参考测量位置(R)之间移动。
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