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公开(公告)号：CN102429677A
公开(公告)日：2012-05-02
申请号：CN201110223189.7
申请日：2011-08-05
Applicant: 株式会社东芝 , 东芝医疗系统株式会社
IPC: A61B6/03
CPC classification number: A61B6/00 , A61B6/4233 , A61B6/4488
Abstract: 本发明提供一种能够减轻或消除在使用加热器温控各检测元件时产生的恶劣影响的X射线检测器以及X射线CT装置。根据一个实施方式涉及的X射线检测器包括多个检测包与多个加热器。上述各检测包具备多个检测透过被检体的X射线、输出与该X射线对应的检测信号的检测元件，并沿规定的方向排列。上述各加热器分别对上述各检测包而设置，独立地温控上述各检测包。
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公开(公告)号：CN102160798A
公开(公告)日：2011-08-24
申请号：CN201110044648.5
申请日：2011-02-24
Applicant: 株式会社东芝 , 东芝医疗系统株式会社
IPC: A61B6/03
CPC classification number: A61B6/4488
Abstract: 本发明提供一种X射线CT装置以及X射线CT装置的控制方法。该X射线CT装置在扫描装置上具备：产生X射线的X射线管；检测X射线的X射线检测器；检出X射线检测器的温度的温度传感器；从X射线检测器收集数据的DAS；通过在非扫描时调整DAS的作功量，控制安装有温度传感器的X射线检测器的温度的控制器。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102958439B
公开(公告)日：2015-02-11
申请号：CN201280000723.0
申请日：2012-06-14
Applicant: 株式会社东芝 , 东芝医疗系统株式会社
IPC: A61B6/03
CPC classification number: G01T1/247 , A61B6/032 , A61B6/4078 , A61B6/4208 , A61B6/4233 , A61B6/4241 , G01T1/2006 , G01T1/2008
Abstract: 本发明在保持积分模式下的X射线光子的高计数能力的同时，实现光子计数模式。X射线管(14)产生X射线。放射线检测器(16)具有多个检测元件。各检测元件反复检测从X射线管(14)产生并透射了被检体的X射线，反复生成与反复检测到的X射线的能量对应的电信号。积分型DAS(26a)以积分型模式收集由各检测元件的摄像区域的一部分检测到的电信号。光子计数型DAS(26b)以光子计数型模式收集由各检测元件的摄像区域的其他部分检测到的电信号。
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公开(公告)号：CN102283668B
公开(公告)日：2014-09-24
申请号：CN201110167497.2
申请日：2011-06-21
Applicant: 株式会社东芝 , 东芝医疗系统株式会社
CPC classification number: A61B6/4208 , A61B6/032 , A61B6/4488 , A61B6/54 , A61B6/585 , H04N5/32 , H04N5/357
Abstract: 本发明提供一种X射线CT装置，能够通过简单的结构容易地进行PDA的温度控制，从而提高CT图像的画质，尤其是在X射线检测器和DAS接近或一体化的情况下也能够进行温度控制。该X射线CT装置具备：X射线源，产生X射线；闪烁器，基于上述X射线发出荧光；基板，形成有多个将上述荧光变换为电信号的光电二极管的受光元件；温度传感器，形成于上述基板表面；热源元件，形成于上述基板表面；以及控制部，基于上述温度传感器检测出的温度来调整上述热源元件的电流，由此控制上述光电二极管的温度。
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公开(公告)号：CN102160798B
公开(公告)日：2013-04-03
申请号：CN201110044648.5
申请日：2011-02-24
Applicant: 株式会社东芝 , 东芝医疗系统株式会社
IPC: A61B6/03
CPC classification number: A61B6/4488
Abstract: 本发明提供一种X射线CT装置以及X射线CT装置的控制方法。该X射线CT装置在扫描装置上具备：产生X射线的X射线管；检测X射线的X射线检测器；检出X射线检测器的温度的温度传感器；从X射线检测器收集数据的DAS；通过在非扫描时调整DAS的作功量，控制安装有温度传感器的X射线检测器的温度的控制器。
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公开(公告)号：CN102958439A
公开(公告)日：2013-03-06
申请号：CN201280000723.0
申请日：2012-06-14
Applicant: 株式会社东芝 , 东芝医疗系统株式会社
IPC: A61B6/03
CPC classification number: G01T1/247 , A61B6/032 , A61B6/4078 , A61B6/4208 , A61B6/4233 , A61B6/4241 , G01T1/2006 , G01T1/2008
Abstract: 本发明在保持积分模式下的X射线光子的高计数能力的同时，实现光子计数模式。X射线管(14)产生X射线。放射线检测器(16)具有多个检测元件。各检测元件反复检测从X射线管(14)产生并透射了被检体的X射线，反复生成与反复检测到的X射线的能量对应的电信号。积分型DAS(26a)以积分型模式收集由各检测元件的摄像区域的一部分检测到的电信号。光子计数型DAS(26b)以光子计数型模式收集由各检测元件的摄像区域的其他部分检测到的电信号。
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公开(公告)号：CN102283668A
公开(公告)日：2011-12-21
申请号：CN201110167497.2
申请日：2011-06-21
Applicant: 株式会社东芝 , 东芝医疗系统株式会社
CPC classification number: A61B6/4208 , A61B6/032 , A61B6/4488 , A61B6/54 , A61B6/585 , H04N5/32 , H04N5/357
Abstract: 本发明提供一种X射线CT装置，能够通过简单的结构容易地进行PDA的温度控制，从而提高CT图像的画质，尤其是在X射线检测器和DAS接近或一体化的情况下也能够进行温度控制。该X射线CT装置具备：X射线源，产生X射线；闪烁器，基于上述X射线发出荧光；基板，形成有多个将上述荧光变换为电信号的光电二极管的受光元件；温度传感器，形成于上述基板表面；热源元件，形成于上述基板表面；以及控制部，基于上述温度传感器检测出的温度来调整上述热源元件的电流，由此控制上述光电二极管的温度。
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