公开(公告)号：CN101044410A

公开(公告)日：2007-09-26

申请号：CN200580027956.X

申请日：2005-08-19

Applicant: 株式会社东芝

Inventor： 金岩浩志 ,  酒井正弘 ,  井上良之 ,  关户忍

IPC: G01R31/12

Abstract: 一种旋转电机的局部放电检测装置，包括连接到旋转电机的定子架(7)的金属架(5)；连接到对应于金属架中的三相中的一相的定子绕组(6)和连接到三相定子绕组的中性点的中性点导线之一且设置在金属架(5)中的电源线(4)，用于传播由定子绕组(6)的退化产生的局部放电信号；包括杆状天线(2)的传感器，将其安装在金属架(5)中的电源线或中性点引线(4)周围，以便静电和磁感应传播到电源线或中性点引线(4)的局部放电信号；以及检测器(3)，经由信号引线(2)接收在传感器中产生的信号并通过信号处理来检测局部放电。

公开(公告)号：CN100504421C

公开(公告)日：2009-06-24

申请号：CN03809365.0

申请日：2003-02-17

Applicant: 株式会社东芝 ,  东芝植物系统和服务公司

Inventor： 井上良之 ,  长谷川博 ,  高桥伸二 ,  小川浩昭 ,  关户忍

IPC: G01R31/34 ,  G01R31/06 ,  G01R31/12

CPC classification number: G01R31/34 ,  G01M3/16 ,  G01M3/40 ,  G01R31/06 ,  G01R31/1263 ,  G01R31/346

Abstract: 根据本发明的线圈退化诊断方法，用绝缘层覆盖直接用介质冷却的导体，线圈由要安装在绝缘层中的内部电极构成，AC电压加在线圈的导体上，通过面对线圈的电位测量探头测量内部电极的电位，并且如果测得的电位高于正常线圈的电位，则确定介质从导体泄漏到绝缘层，并且其绝缘退化。根据上述结构，可以提供改善的线圈退化诊断方法和适用于该诊断方法的改善的线圈退化诊断装置，通过简便的过程，能够容易、精确和可靠的检测当用水直接冷却导体的线圈由于水从导体泄漏到绝缘层中产生的绝缘退化。

公开(公告)号：CN100523852C

公开(公告)日：2009-08-05

申请号：CN200480038510.2

申请日：2004-10-22

Applicant: 株式会社东芝 ,  东芝设备系统和服务公司

Inventor： 井上良之 ,  关户忍 ,  岛田秀行 ,  长谷川博 ,  小山充彦 ,  金岩浩志 ,  大野伸二 ,  外崎信之

IPC: G01R31/34

Abstract: 本发明的线圈剩余寿命推定方法，包括：第1工序，确认来自导体的冷却水是否泄漏到绝缘层，在上述导体冷却水泄漏到绝缘层的情况下，进行对线圈的绝缘破坏电压的推定所需的测量，推定线圈的绝缘破坏电压；第2工序，根据上述线圈今后的运转条件，非破坏性地推定线圈的绝缘破坏电压今后的下降曲线；第3工序，对通过第1工序及第2工序求出的数据进行外推，求出绝缘破坏电压下降至运转上述线圈所需电压的时期。根据上述方法，能够提供一种在绝缘层内安装了内部电极的线圈中不抽取线圈、非破坏性地推定绝缘层的绝缘破坏电压，并且根据推定出的绝缘破坏电压来推定剩余寿命的剩余寿命推定方法。

公开(公告)号：CN101044410B

公开(公告)日：2010-11-24

申请号：CN200580027956.X

申请日：2005-08-19

Applicant: 株式会社东芝

Inventor： 金岩浩志 ,  酒井正弘 ,  井上良之 ,  关户忍

IPC: G01R31/12

Abstract: 一种旋转电机的局部放电检测装置，包括连接到旋转电机的定子架(7)的金属架(5)；连接到对应于金属架中的三相中的一相的定子绕组(6)和连接到三相定子绕组的中性点的中性点导线之一且设置在金属架(5)中的电源线(4)，用于传播由定子绕组(6)的退化产生的局部放电信号；包括杆状天线(2)的传感器，将其安装在金属架(5)中的电源线或中性点引线(4)周围，以便静电和磁感应传播到电源线或中性点引线(4)的局部放电信号；以及检测器(3)，经由信号引线(2)接收在传感器中产生的信号并通过信号处理来检测局部放电。

公开(公告)号：CN1898575A

公开(公告)日：2007-01-17

申请号：CN200480038510.2

申请日：2004-10-22

Applicant: 株式会社东芝 ,  东芝设备系统和服务公司

Inventor： 井上良之 ,  关户忍 ,  岛田秀行 ,  长谷川博 ,  小山充彦 ,  金岩浩志 ,  大野伸二 ,  外崎信之

IPC: G01R31/34

Abstract: 本发明的线圈剩余寿命推定方法，包括：第1工序，确认来自导体的冷却水是否泄漏到绝缘层，在上述导体冷却水泄漏到绝缘层的情况下，进行对线圈的绝缘破坏电压的推定所需的测量，推定线圈的绝缘破坏电压；第2工序，根据上述线圈今后的运转条件，非破坏性地推定线圈的绝缘破坏电压今后的下降曲线；第3工序，对通过第1工序及第2工序求出的数据进行外推，求出绝缘破坏电压下降至运转上述线圈所需电压的时期。根据上述方法，能够提供一种在绝缘层内安装了内部电极的线圈中不抽取线圈、非破坏性地推定绝缘层的绝缘破坏电压，并且根据推定出的绝缘破坏电压来推定剩余寿命的剩余寿命推定方法。

公开(公告)号：CN1650185A

公开(公告)日：2005-08-03

申请号：CN03809365.0

申请日：2003-02-17

Applicant: 株式会社东芝 ,  东芝植物系统和服务公司

Inventor： 井上良之 ,  长谷川博 ,  高桥伸二 ,  小川浩昭 ,  关户忍

IPC: G01R31/34 ,  G01R31/06 ,  G01R31/12

CPC classification number: G01R31/34 ,  G01M3/16 ,  G01M3/40 ,  G01R31/06 ,  G01R31/1263 ,  G01R31/346

Abstract: 根据本发明的线圈退化诊断方法，用绝缘层覆盖直接用介质冷却的导体，线圈由要安装在绝缘层中的内部电极构成，AC电压加在线圈的导体上，通过面对线圈的电位测量探头测量内部电极的电位，并且如果测得的电位高于正常线圈的电位，则确定介质从导体泄漏到绝缘层，并且其绝缘退化。根据上述结构，可以提供改善的线圈退化诊断方法和适用于该诊断方法的改善的线圈退化诊断装置，通过简便的过程，能够容易、精确和可靠的检测当用水直接冷却导体的线圈由于水从导体泄漏到绝缘层中产生的绝缘退化。