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公开(公告)号：CN1332384C
公开(公告)日：2007-08-15
申请号：CN02107332.5
申请日：2002-03-14
Applicant: 株式会社三协精机制作所
CPC classification number: G11B7/22 , G11B7/123 , G11B7/1275 , G11B2007/0006
Abstract: 提供一种采用由基台上装有用感光性玻璃制造的框架、能对光学零部件进行精度良好的定位的光头装置。在光头装置(1)中，呈コ字型的由感光性玻璃制成的框架(7)装在金属制的线路基板(31)和金属制的基座框架(32)叠在一起构成的基台(3)上。利用框架(7)对受发光元件(4)、第1和第2光学元件(61、62)和视准透镜(63)进行定位。保持在框架(7)上的光学元件(61、62、63)能通过朝向基台(3)打开的开口部从基台的后部对安装位置进行微调。从而能通过简单操作对光学零部件进行精度良好的定位。
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公开(公告)号：CN1155957C
公开(公告)日：2004-06-30
申请号：CN99110156.1
申请日：1999-06-30
Applicant: 株式会社三协精机制作所
IPC: G11B7/135
Abstract: 一种光传感装置，在其光源单元中，将半导体激光器及信号再生用受光元件内藏在组件中，在作为组件的构成要素的组件盖板上形成有配置在半导体激光器与信号再生用受光元件之间的遮光用突起，由于从半导体激光器射出的前方及后方激光中的未用作为有效光束的光(杂散光)被该遮光用突起遮住，故可防止该杂散光射入信号再生用受光元件，可高精度进行光盘的再生、记录、聚光装置的跟踪及聚焦控制。
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公开(公告)号：CN1375824A
公开(公告)日：2002-10-23
申请号：CN02107332.5
申请日：2002-03-14
Applicant: 株式会社三协精机制作所
CPC classification number: G11B7/22 , G11B7/123 , G11B7/1275 , G11B2007/0006
Abstract: 提供一种采用由基台上装有用感光性玻璃制造的框架、能对光学零部件进行精度良好的定位的光头装置。在光头装置1中,呈コ字型的由感光性玻璃制成的框架7装在金属制的线路基板31和金属制的基座框架32叠在一起构成的基台3上。利用框架7对受发光元件4、第1和第2光子元件61、62和视准透镜63进行定位。保持在框架7上的光学元件61、62、63能通过朝向基台3打开的开口部从基台的后部对安装位置进行微调。从而能通过简单操作对光学零部件进行精度良好的定位。
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公开(公告)号：CN100405484C
公开(公告)日：2008-07-23
申请号：CN200510119234.9
申请日：2005-10-28
Applicant: 株式会社三协精机制作所
Inventor： 石原久宽
Abstract: 本发明提供在光学仪器的制造工艺过程中进行半导体激光器的角度位置的调整等时，不使用复杂的算法也能高精度地检测出半导体激光元件的发光图案的倾角的光学仪器的制造方法。在制造光头装置等光学仪器时，在半导体激光元件(20)的角度位置检测工序中，以低于激发阈值的电流驱动半导体激光元件(20)，使半导体激光元件(20)的端面以自发发射的模式呈线状发光，根据线状发光图案的观察结果，检测出半导体激光元件(20)的光轴周围的角度位置。这时，也可以对线状的发光图案进行图象处理并求得所述发光图案的直线近似图案，根据直线近似图案检测出半导体激光元件(20)的光轴周围的角度位置。所述检测结果可以用于调整半导体激光元件(20)的角度位置等。
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公开(公告)号：CN1338736A
公开(公告)日：2002-03-06
申请号：CN01124406.2
申请日：2001-07-20
Applicant: 株式会社三协精机制作所
CPC classification number: G11B7/127 , G02B6/423 , G11B7/123 , G11B2007/0006 , H01L2224/48091 , H01S5/02236 , H01S5/02252 , H01S5/02272 , H01S5/0683 , H01S5/4012 , H01S5/4087 , H01L2924/00014
Abstract: 一种光头装置的光源装置,在辅助支架上面形成有对第1及第2激光二极管芯片进行定位的定位用突部,该定位用突部具有:对从第1及第2激光二极管芯片、射出的激光L1、L2的光轴方向的位置进行规定的第1凸部、第2凸部、第3凸部的后侧侧面;对与光轴方向正交的位置进行规定的第2凸部的分隔部分的左右侧面。因此,只要将第1及第2激光二极管芯片、安装在辅助支架的定位用突部上,就可对它们光轴方向的位置及与光轴方向正交的位置、它们各自的发光点间隔进行精度良好的定位。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1282959C
公开(公告)日：2006-11-01
申请号：CN200410076970.6
申请日：2004-08-30
Applicant: 株式会社三协精机制作所
CPC classification number: G11B7/22 , G11B7/0903
Abstract: 一种光头装置的制造方法，将2个发光元件(21、22)和2个衍射元件(71、72)等作为光学模块(3)一体化，并在该光学模块(3)上对2个衍射元件(71、72)之间的相对位置关系作出调整，然后在装置构架(4)上对光学模块(3)整体进行位置调整。本发明可提供即使小型化的场合也能容易地对衍射元件生成的副波束在光记录介质上的点位置进行调整的光头装置的制造方法及其光头装置。
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公开(公告)号：CN1783265A
公开(公告)日：2006-06-07
申请号：CN200510119234.9
申请日：2005-10-28
Applicant: 株式会社三协精机制作所
Inventor： 石原久宽
Abstract: 本发明提供在光学仪器的制造工艺过程中进行半导体激光器的角度位置的调整等时，不使用复杂的算法也能高精度地检测出半导体激光元件的发光图案的倾角的光学仪器的制造方法。在制造光头装置等光学仪器时，在半导体激光元件(20)的角度位置检测工序中，以低于激发阈值的电流驱动半导体激光元件(20)，使半导体激光元件(20)的端面以自发发射的模式呈线状发光，根据线状发光图案的观察结果，检测出半导体激光元件(20)的光轴周围的角度位置。这时，也可以对线状的发光图案进行图象处理并求得所述发光图案的直线近似图案，根据直线近似图案检测出半导体激光元件(20)的光轴周围的角度位置。所述检测结果可以用于调整半导体激光元件(20)的角度位置等。
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公开(公告)号：CN1591619A
公开(公告)日：2005-03-09
申请号：CN200410076970.6
申请日：2004-08-30
Applicant: 株式会社三协精机制作所
CPC classification number: G11B7/22 , G11B7/0903
Abstract: 一种光头装置的制造方法，将2个发光元件(21、22)和2个衍射元件(71、72)等作为光学模块(3)一体化，并在该光学模块(3)上对2个衍射元件(71、72)之间的相对性的位置关系作出调整，然后在装置构架(4)上对光学模块(3)全体进行位置调整。本发明可提供即使小型化的场合也能容易地对衍射元件生成的副波束在光记录介质上的点位置进行调整的光头装置的制造方法及其光头装置。
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公开(公告)号：CN1149553C
公开(公告)日：2004-05-12
申请号：CN01124406.2
申请日：2001-07-20
Applicant: 株式会社三协精机制作所
CPC classification number: G11B7/127 , G02B6/423 , G11B7/123 , G11B2007/0006 , H01L2224/48091 , H01S5/02236 , H01S5/02252 , H01S5/02272 , H01S5/0683 , H01S5/4012 , H01S5/4087 , H01L2924/00014
Abstract: 一种光头装置的光源装置，在辅助支架上面形成有对第1及第2激光二极管芯片进行定位的定位用突部，该定位用突部具有：对从第1及第2激光二极管芯片、射出的激光L1、L2的光轴方向的位置进行规定的第1凸部、第2凸部、第3凸部的后侧侧面；对与光轴方向正交的位置进行规定的第2凸部的分隔部分的左右侧面。因此，只要将第1及第2激光二极管芯片、安装在辅助支架的定位用突部上，就可对它们光轴方向的位置及与光轴方向正交的位置、它们各自的发光点间隔进行精度良好的定位。
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公开(公告)号：CN1381841A
公开(公告)日：2002-11-27
申请号：CN02106089.4
申请日：2002-04-10
Applicant: 株式会社三协精机制作所
Abstract: 一种在光头装置(1),使构成其光学系统的各光学元件(4、6、7、8)直接搭载在配线基板(3)上,而作为振动发生源的物镜驱动机构11的构成零件的金属丝悬臂(13)和轭铁板(14)被搭载在树脂制的装置框架(5)上,该装置框架(5)被层叠在配线基板(3)的表面上。由于由物镜驱动机构(11)产生的振动被具有缓冲功能的树脂制的装置框架(5)所吸收,故能可靠地防止搭载在配线基板(3)上的各光学元件(4、6、7、8)产生振动,能避免由振动引起的光学特性的恶化。
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