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公开(公告)号：CN1306256C
公开(公告)日：2007-03-21
申请号：CN200310104631.X
申请日：2003-10-31
Applicant: 株式会社三协精机制作所
CPC classification number: G01J1/4257
Abstract: 本发明揭示一种光学特性测量装置和光学式位移计，可在测量入射激光的光学特性的光学特性测量装置和应用其原理的光学式位移计中，用简易的光学系统测量各种光学特性。其中光学特性测量装置(1A)具有半导体激光发光元件产生的激光(LO)以利用准直透镜形成平行光的状态入射的开口(11)、配置在此开口(11)的出射光路由上的并且由棱镜组成的分光器(12)、接收此棱镜(12)的透射反射膜透射出来的光的第1位置检测元件(21)(第1面状光检测器)和接收棱镜(12)的透射反射膜反射出来的光的第2位置检测元件(22)(第2面状光检测器)。
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公开(公告)号：CN1219291C
公开(公告)日：2005-09-14
申请号：CN03138477.3
申请日：2003-05-29
Applicant: 株式会社三协精机制作所
Abstract: 一种光磁头装置，将PD-IC(8)和电容器(9)组装在柔性基板(4)的同一面上，并将柔性基板(4)向里面侧折曲，将增强板(6)夹在该折曲部分中。在柔性基板(4)上，将框体(7)配置于PD-IC(8)组装区域的表面侧，将框体(7)和增强板(6)焊接在增强板(6)的通孔(60)的部分，构成柔性基板组件，将框体(7)的里面侧粘接剂固定在构架(3)上。由此可提供一种在将受光元件搭载于构架时采用新的构造而可使用单面柔性基板的光磁头装置。
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公开(公告)号：CN1499185A
公开(公告)日：2004-05-26
申请号：CN200310104631.X
申请日：2003-10-31
Applicant: 株式会社三协精机制作所
CPC classification number: G01J1/4257
Abstract: 本发明揭示一种光学特性测量装置和光学式位移计，可在测量入射激光的光学特性的光学特性测量装置和应用其原理的光学式位移计中，用简易的光学系统测量各种光学特性。其中光学特性测量装置(1A)具有半导体激光发光元件产生的激光(L0)以利用准直透镜形成平行光的状态入射的开口(11)、配置在此开口(11)的出射光路由上的并且由棱镜组成的分光器(12)、接收此棱镜(12)的透射反射膜透射出来的光的第1位置检测元件(21)(第1面状光检测器)和接收棱镜(12)的透射反射膜反射出来的光的第2位置检测元件(22)(第2面状光检测器)。
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公开(公告)号：CN1467716A
公开(公告)日：2004-01-14
申请号：CN03138477.3
申请日：2003-05-29
Applicant: 株式会社三协精机制作所
Abstract: 一种光磁头装置，将PD－IC(8)和电容器(9)组装在柔性基板(4)的同一面上，并将柔性基板(4)向里面侧折曲，将增强板(6)夹在该折曲部分中。在柔性基板(4)上，将框体(7)配置于PD－IC(8)组装区域的表面侧，将框体(7)和增强板(6)焊接在增强板(6)的通孔(60)的部分，构成柔性基板组件，将框体(7)的里面侧粘接剂固定在构架(3)上。由此可提供一种在将受光元件搭载于构架时采用新的构造而可使用单面柔性基板的光磁头装置。
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