公开(公告)号：CN1202694A

公开(公告)日：1998-12-23

申请号：CN98109223.3

申请日：1998-05-22

Applicant: 株式会社三协精机制作所

Inventor： 东浦一雄 ,  林善雄 ,  武田正

IPC: G11B7/125

CPC classification number: G01J1/04 ,  G01J1/0407 ,  G01J1/0437 ,  G01J1/0477 ,  G01J1/4228 ,  G01J1/4257

Abstract: 本发明揭示一种半导体激光装置和光拾取装置,包括在半导体激光装置(1)中,使得棱镜(5)将倾斜面(50)朝向辅助安装架(3)上的半导体激光器(4)的射出面,在倾斜面(50)上形成用于反射来自半导体激光器(4)的激光(L1)的一部分的进行了表面处理的反射区域(51)、和穿透折射残余的光并引导到在半导体基片(2)的表面部分(2b)上用棱镜覆盖的监控用光检测器(6)的感光面(6a)上的穿透折射区域(52),基于在感光面(6a)的感光结果、反馈控制半导体激光器的发光量。

公开(公告)号：CN1154989C

公开(公告)日：2004-06-23

申请号：CN98109223.3

申请日：1998-05-22

Applicant: 株式会社三协精机制作所

Inventor： 东浦一雄 ,  林善雄 ,  武田正

IPC: G11B7/125

CPC classification number: G01J1/04 ,  G01J1/0407 ,  G01J1/0437 ,  G01J1/0477 ,  G01J1/4228 ,  G01J1/4257

Abstract: 本发明揭示一种半导体激光装置和光拾取装置，包括在半导体激光装置(1)中，使得棱镜(5)将倾斜面(50)朝向辅助安装架(3)上的半导体激光器(4)的射出面，在倾斜面(50)上形成用于反射来自半导体激光器(4)的激光(L1)的一部分的进行了表面处理的反射区域(51)、和穿透折射残余的光并引导到在半导体基片(2)的表面部分(2b)上用棱镜覆盖的监控用光检测器(6)的感光面(6a)上的穿透折射区域(52)，基于在感光面(6a)的感光结果、反馈控制半导体激光器的发光量。

公开(公告)号：CN1208223A

公开(公告)日：1999-02-17

申请号：CN98108428.1

申请日：1998-05-15

Applicant: 株式会社三协精机制作所

Inventor： 东浦一雄 ,  武田正

IPC: G11B7/135 ,  G11B7/125

CPC classification number: G11B7/131 ,  G11B7/0903 ,  G11B7/0909 ,  G11B7/1353 ,  G11B2007/0006

Abstract: 本发明揭示一种激光头装置。该装置(1)利用调制衍射光栅(6)将激光二极管(2)的出射光(L)分成3束光,并共同聚焦在记录面(4a)的记录纹道(4b)上。使记录纹道(4b)上形成的+－1次光的光点(a)、(c),在与记录纹道方向正交的方向上发生象散。用衍射光栅(6)分别将从光记录媒体(4)返回的3束光分别衍射成4束光,由+－1次光所形成返回光的光点(a3)、(a4)、(c3)、(c4),形成能用共同的光学系统检测的记录纹道间隔不同的光记录媒体的跟踪误差信号。