公开(公告)号：CN106253594B

公开(公告)日：2019-11-29

申请号：CN201610394756.8

申请日：2016-06-06

Applicant: 株式会社三井高科技

Inventor： 松林敏 ,  小田仁 ,  丰永益守

IPC: H02K15/02

Abstract: 提供了一种用于检查层压铁芯的设备，其中，多个铁芯片被层压。该设备包括：插入夹具，在插入夹具与层压铁芯的检查侧表面之间具有间隙的同时，插入夹具能够沿着层压铁芯的检查侧表面在层压铁芯的层压方向上移动；以及检测传感器，其设置在插入夹具上，并且检测移动的插入夹具与突起的接触，所述突起产生在层压铁芯的检查侧表面上。

公开(公告)号：CN106253594A

公开(公告)日：2016-12-21

申请号：CN201610394756.8

申请日：2016-06-06

Applicant: 株式会社三井高科技

Inventor： 松林敏 ,  小田仁 ,  丰永益守

IPC: H02K15/02

Abstract: 提供了一种用于检查层压铁芯的设备，其中，多个铁芯片被层压。该设备包括：插入夹具，在插入夹具与层压铁芯的检查侧表面之间具有间隙的同时，插入夹具能够沿着层压铁芯的检查侧表面在层压铁芯的层压方向上移动；以及检测传感器，其设置在插入夹具上，并且检测移动的插入夹具与突起的接触，所述突起产生在层压铁芯的检查侧表面上。