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公开(公告)号：CN1529149A
公开(公告)日：2004-09-15
申请号：CN200410032372.9
申请日：2001-09-25
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G01N21/27 , G01N30/00 , G01N33/543
CPC classification number: G01N30/90 , G01N21/8483 , G01N30/95 , G01N33/542 , G01N33/54386 , G01N33/558 , Y10S435/967 , Y10S435/97 , Y10S436/805 , Y10S436/81
Abstract: 本发明所涉及的色层分析定量测量装置的构成是：在由光源(201)相对于色层分析试片(8)照射的光束被柱面透镜(205)等光学部件形成椭圆形状并照射在标识试剂保持部(82)和检测部(83)之间的状态下，检测伴随着标识试剂的洗提的吸光度的变化，并自该检测后在一定时间后自动地开始测量。利用这样构成的色层分析定量测量装置，通过利用光学部件使光束成为椭圆形状，可以缓和显色不均并使定量分析高精度化，此外，还可以实现装置的操作性简单的色层分析测量装置。
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公开(公告)号：CN100347549C
公开(公告)日：2007-11-07
申请号：CN200510118897.9
申请日：2001-09-25
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G01N33/558 , G01N30/95 , G01N33/543 , G01N33/52
Abstract: 本发明所涉及的色层分析定量测量装置的构成是：在由光源(201)相对于色层分析试片(8)照射的光束被柱面透镜(205)等光学部件形成椭圆形状并照射在标识试剂保持部(82)和检测部(83)之间的状态下，检测伴随着标识试剂的洗提的吸光度的变化，并自该检测后在一定时间后自动地开始测量。利用这样构成的色层分析定量测量装置，通过利用光学部件使光束成为椭圆形状，可以缓和显色不均并使定量分析高精度化，此外，还可以实现装置的操作性简单的色层分析测量装置。
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公开(公告)号：CN1763533A
公开(公告)日：2006-04-26
申请号：CN200510118897.9
申请日：2001-09-25
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G01N33/558 , G01N30/95 , G01N33/543 , G01N33/52
Abstract: 本发明所涉及的色层分析定量测量装置的构成是：在由光源(201)相对于色层分析试片(8)照射的光束被柱面透镜(205)等光学部件形成椭圆形状并照射在标识试剂保持部(82)和检测部(83)之间的状态下，检测伴随着标识试剂的洗提的吸光度的变化，并自该检测后在一定时间后自动地开始测量。利用这样构成的色层分析定量测量装置，通过利用光学部件使光束成为椭圆形状，可以缓和显色不均并使定量分析高精度化，此外，还可以实现装置的操作性简单的色层分析测量装置。
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公开(公告)号：CN102012413B
公开(公告)日：2012-11-21
申请号：CN201010294813.8
申请日：2001-09-25
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G01N30/90 , G01N30/95 , G01N33/543
CPC classification number: G01N30/90 , G01N21/8483 , G01N30/95 , G01N33/542 , G01N33/54386 , G01N33/558 , Y10S435/967 , Y10S435/97 , Y10S436/805 , Y10S436/81
Abstract: 本发明所涉及的色层分析定量测量装置的构成是：在由光源(201)相对于色层分析试片(8)照射的光束被柱面透镜(205)等光学部件形成椭圆形状并照射在标识试剂保持部(82)和检测部(83)之间的状态下，检测伴随着标识试剂的洗提的吸光度的变化，并自该检测后在一定时间后自动地开始测量。利用这样构成的色层分析定量测量装置，通过利用光学部件使光束成为椭圆形状，可以缓和显色不均并使定量分析高精度化，此外，还可以实现装置的操作性简单的色层分析测量装置。
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公开(公告)号：CN1529150A
公开(公告)日：2004-09-15
申请号：CN200410032373.3
申请日：2001-09-25
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G01N21/27 , G01N30/00 , G01N33/543
CPC classification number: G01N30/90 , G01N21/8483 , G01N30/95 , G01N33/542 , G01N33/54386 , G01N33/558 , Y10S435/967 , Y10S435/97 , Y10S436/805 , Y10S436/81
Abstract: 本发明所涉及的色层分析定量测量装置的构成是：在由光源(201)相对于色层分析试片(8)照射的光束被柱面透镜(205)等光学部件形成椭圆形状并照射在标识试剂保持部(82)和检测部(83)之间的状态下，检测伴随着标识试剂的洗提的吸光度的变化，并自该检测后在一定时间后自动地开始测量。利用这样构成的色层分析定量测量装置，通过利用光学部件使光束成为椭圆形状，可以缓和显色不均并使定量分析高精度化，此外，还可以实现装置的操作性简单的色层分析测量装置。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101101285A
公开(公告)日：2008-01-09
申请号：CN200710112245.3
申请日：2001-09-25
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G01N30/95 , G01N21/86 , G01N33/558 , G01N33/52
Abstract: 本发明所涉及的色层分析定量测量装置的构成是：在由光源(201)相对于色层分析试片(8)照射的光束被柱面透镜(205)等光学部件形成椭圆形状并照射在标识试剂保持部(82)和检测部(83)之间的状态下，检测伴随着标识试剂的洗提的吸光度的变化，并自该检测后在一定时间后自动地开始测量。利用这样构成的色层分析定量测量装置，通过利用光学部件使光束成为椭圆形状，可以缓和显色不均并使定量分析高精度化，此外，还可以实现装置的操作性简单的色层分析测量装置。
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公开(公告)号：CN1287140C
公开(公告)日：2006-11-29
申请号：CN200410032373.3
申请日：2001-09-25
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G01N21/27 , G01N30/00 , G01N33/543
CPC classification number: G01N30/90 , G01N21/8483 , G01N30/95 , G01N33/542 , G01N33/54386 , G01N33/558 , Y10S435/967 , Y10S435/97 , Y10S436/805 , Y10S436/81
Abstract: 本发明所涉及的色层分析定量测量装置的构成是：在由光源(201)相对于色层分析试片(8)照射的光束被柱面透镜(205)等光学部件形成椭圆形状并照射在标识试剂保持部(82)和检测部(83)之间的状态下，检测伴随着标识试剂的洗提的吸光度的变化，并自该检测后在一定时间后自动地开始测量。利用这样构成的色层分析定量测量装置，通过利用光学部件使光束成为椭圆形状，可以缓和显色不均并使定量分析高精度化，此外，还可以实现装置的操作性简单的色层分析测量装置。
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公开(公告)号：CN1392953A
公开(公告)日：2003-01-22
申请号：CN01802901.9
申请日：2001-09-25
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G01N21/27 , G01N30/90 , G01N33/543
CPC classification number: G01N30/90 , G01N21/8483 , G01N30/95 , G01N33/542 , G01N33/54386 , G01N33/558 , Y10S435/967 , Y10S435/97 , Y10S436/805 , Y10S436/81
Abstract: 本发明所涉及的色层分析定量测量装置的构成是：在由光源(201)相对于色层分析试片(8)照射的光束被柱面透镜(205)等光学部件形成椭圆形状并照射在标识试剂保持部(82)和检测部(83)之间的状态下，检测伴随着标识试剂的洗提的吸光度的变化，并自该检测后在一定时间后自动地开始测量。利用这样构成的色层分析定量测量装置，通过利用光学部件使光束成为椭圆形状，可以缓和显色不均并使定量分析高精度化，此外，还可以实现装置的操作性简单的色层分析测量装置。
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公开(公告)号：CN1246922A
公开(公告)日：2000-03-08
申请号：CN98802394.6
申请日：1998-12-08
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G01N21/23
CPC classification number: G01N21/23
Abstract: 一种使线偏振光在样品盒(4)内通过,使该通过光分离成互相差90度的偏振光成分,分别用2个受光器件(6a、6b)对该分离后的偏振光成分进行受光,用该两个受光器件的输出电平之差测定旋光角的旋光度测定装置。在用法拉第效应测定旋光度的现有的装置中,由于使用螺线管,故装置的操作、小型化和低功耗化是困难的,但采用本发明就可以解决这些问题。
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公开(公告)号：CN1529149B
公开(公告)日：2013-01-09
申请号：CN200410032372.9
申请日：2001-09-25
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G01N21/27 , G01N30/00 , G01N33/543
CPC classification number: G01N30/90 , G01N21/8483 , G01N30/95 , G01N33/542 , G01N33/54386 , G01N33/558 , Y10S435/967 , Y10S435/97 , Y10S436/805 , Y10S436/81
Abstract: 本发明所涉及的色层分析定量测量装置的构成是：在由光源(201)相对于色层分析试片(8)照射的光束被柱面透镜(205)等光学部件形成椭圆形状并照射在标识试剂保持部(82)和检测部(83)之间的状态下，检测伴随着标识试剂的洗提的吸光度的变化，并自该检测后在一定时间后自动地开始测量。利用这样构成的色层分析定量测量装置，通过利用光学部件使光束成为椭圆形状，可以缓和显色不均并使定量分析高精度化，此外，还可以实现装置的操作性简单的色层分析测量装置。
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