公开(公告)号：CN1082181C

公开(公告)日：2002-04-03

申请号：CN97192537.2

申请日：1997-02-26

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 横山晴彦 ,  中村雅俊

IPC: G01B11/24 ,  G01B11/30

CPC classification number: G01N21/8851

Abstract: 一种正确检测轮廓线上有无凹凸的电子元器件的外观检查方法。通过提取检查对象电子元器件的矩形轮廓线(1)，微分该轮廓线(1)，用微分值的极大、极小值(10，11)与中值(12)差的绝对值的大小来判定轮廓线(1)上有无凹凸。

公开(公告)号：CN1212049A

公开(公告)日：1999-03-24

申请号：CN97192537.2

申请日：1997-02-26

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 横山晴彦 ,  中村雅俊

IPC: G01B11/24 ,  G01B11/30

CPC classification number: G01N21/8851

Abstract: 一种正确检测轮廓线上有无凹凸的电子元器件的外观检查方法。通过提取检查对象电子元器件的矩形轮廓线(1),微分该轮廓线(1),用微分值的极大、极小值(10,11)与中值(12)差的绝对值的大小来判定轮廓线(1)上有无凹凸。