一种光谱仪及其校正方法

    公开(公告)号:CN101354287B

    公开(公告)日:2010-12-22

    申请号:CN200710070319.1

    申请日:2007-07-24

    发明人: 潘建根 沈海平

    IPC分类号: G01J3/28 G01J3/02

    摘要: 本发明涉及一种光谱仪及其校正方法。包括一个用于将被测光线分成单色光的单色仪,一个用于接收单色光的光电倍增管,单色仪与光电倍增管光学连接,所述的光电倍增管通过一个信号处理电路与微控制器电连接,其特征在于,它还包括一个用于产生参考光的参考光源,参考光源与微控制器相联,且所述的参考光源为发光二极管。与现有的技术相比,本光谱仪及其校正方法的优点在于:1.设计合理,结构简单,测量动态范围大;2.由于对光电倍增管的绝对灵敏度进行了合理的校正,仪器的响应线性好;3.对参考探测器、参考光源和光电倍增管都进行了恒温控制,有效提高了其工作稳定性;4.在少量增加成本的条件下实现了光谱仪性能的大幅度提高。

    一种二维光谱测量装置
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101813520A

    公开(公告)日:2010-08-25

    申请号:CN200910215556.1

    申请日:2009-12-23

    发明人: 潘建根

    IPC分类号: G01J3/28 G01J1/42 G01J3/50

    摘要: 本发明公开了一种二维光谱测量装置,包括机壳,被测二维目标的被测量光束从镜头进入机壳内,并分别被机壳内的观察器和光谱仪接收;观察器用来对准被测目标和/或测量被测目标的图像亮度信息,光谱仪由狭缝、色散部件和二维多通道探测器组成,一次测量能够得到某一行/列中各点的光谱分布;在机壳内或者在机壳上设置扫描机构,使狭缝与被测二维目标像面产生相对位移,扫描机构和光谱仪相配合测得被测二维目标上各点的光谱分布、亮度、颜色等详尽光学参数;本发明的二维光谱测量装置操作简便、快速,重复性好,测量精度高,可测量参数齐全。

    一种亮度测量装置
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101813517A

    公开(公告)日:2010-08-25

    申请号:CN200910215557.6

    申请日:2009-12-23

    发明人: 潘建根

    IPC分类号: G01J1/42 G01J1/04 G01J3/28

    摘要: 本发明公开了一种亮度测量装置,包括机壳,机壳的入光口设置镜头,来自镜头的光分成两束,一束经过小孔视场光阑被第一光电探测器接收,另一束被第二光电探测器接收。第一光电探测器测量被瞄准点的亮度及光谱参数,第二光电探测器可同时实现被瞄准点的周围环境的发光信息的显示、记录和图像亮度的测量,本发明的亮度测量装置测量精度高,同时又可给出明视觉、暗视觉和中间视觉亮度值,测量功能全,操作方便,重复性高。

    一种亮度发生器
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101799123A

    公开(公告)日:2010-08-11

    申请号:CN200910154754.1

    申请日:2009-12-01

    发明人: 潘建根 陈双

    摘要: 本发明公开一种亮度发生器,包括一个具有圆形出光口的积分球,积分球整体或一部分置于罩壳内,在出光口的边缘安装有绕出光口对称分布的光电探头,积分球的球面上还设置绕出光口对称分布的光源,通过调节各个光源的输入功率或开启/关闭各个光源,从而保证了出光口辐亮度的均匀性和可调性,实现大面积标准亮度源,本发明易于实现色温的高稳定性和高均匀度的亮度输出。

    光谱自校正光度计及其测量方法

    公开(公告)号:CN101782428A

    公开(公告)日:2010-07-21

    申请号:CN200910095709.3

    申请日:2009-01-16

    发明人: 潘建根 李倩

    IPC分类号: G01J1/10

    摘要: 本发明公开了一种光谱自校正光度计及其测量方法,包括入光口、光学分光镜、光谱仪和具有滤色片的硅光电池,光学分光镜将被测光按固定比例至少分成两束,一部分光束被光谱仪接收,另一部分光束被硅光电池接收,二者同时测得同一束被测光。本发明的光谱自校正光度计能大幅减小由光谱失匹配带来的误差,对被测光的光谱依赖性小,且克服了由被测光源的空间光谱功率分布不一致和发光随时间变化等带来的问题,测量的系统误差和随机误差都相对较小,测量重复性高;利用绝对光谱辐射计作为标准源定标本发明的光谱自校正光度计,光辐射度的绝对量值传递链很短,光谱自校正光度计具有较高精度和可靠性的绝对量值,可应用于各种光辐射测量系统,测量多种重要的光辐射参数。

    消偏振反射镜
    6.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101334520B

    公开(公告)日:2010-06-09

    申请号:CN200810063060.2

    申请日:2008-07-08

    发明人: 潘建根

    IPC分类号: G02B17/06

    摘要: 本发明公开了一种消偏振反射镜,包括安装在光路上的由至少一面起偏反射镜和至少一面补偿反射镜的镜组,起偏入射平面和补偿入射平面相互垂直,镜组中所有起偏反射镜的s波和p波反射率比的乘积与所有补偿反射镜的s波与p波反射率比的乘积相等;在光路中,镜组可以单组设置也可以多组设置。本发明可以方便、有效地消除镜面反射带来的偏振问题。

    分布光度计

    公开(公告)号:CN101059368A

    公开(公告)日:2007-10-24

    申请号:CN200710068056.0

    申请日:2007-04-16

    发明人: 潘建根

    IPC分类号: G01J1/04 G01M11/02

    摘要: 本发明公开了一种分布光度计。包括两个独立基座,光学反射镜安装在与第一基座相连的转臂一端,转臂的另一端安装正对被测光源的第一光学接收器,转臂带动光学反射镜和第一光学接收器绕第一转动中心线转动;第二光学接收器安装在第二基座上,并可与转臂同步绕第一转动中心线转动,同步接收被由测光源发出经光学反射镜反射的光束;被测光源通过灯臂与第一基座相联,绕自身轴旋转。本发明的被测光源始终处于稳定自然燃点状态,并且通过同步接收被测光源光束有效减小了测量误差,提高测量精度;通过设置两个光学接收器,无需调节光学反射镜就可方便地实现两种测量臂长。

    一种低杂散光单色仪
    8.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101907491A

    公开(公告)日:2010-12-08

    申请号:CN201010237108.4

    申请日:2010-07-26

    发明人: 潘建根

    IPC分类号: G01J3/12 G01J3/18

    摘要: 本发明公开了一种低杂散光单色仪,其特征在于入射狭缝所在平面与入射光轴倾斜相交,出射狭缝所在平面与出射光轴倾斜相交。通过这种方式,原本会引起杂散光的非期望光路的光线被入射狭缝或出射狭缝反射到期望光路以外,从而大幅减少杂散光。

    恒温积分球光谱分析装置

    公开(公告)号:CN101839765A

    公开(公告)日:2010-09-22

    申请号:CN201010131407.X

    申请日:2010-03-24

    发明人: 潘建根

    IPC分类号: G01J3/28 G01J3/02 G05D5/02

    摘要: 本发明公开了一种恒温积分球光谱分析装置,包括封闭外壳,封闭外壳内设置光谱仪和积分球,光谱仪通过光取样装置接收从一个探测窗口出射的光信号,封闭外壳内部还设置温度调控装置,并在积分球内部和光谱仪附近分别设置温度传感器,温度传感器和温度调控装置电连接,用以调控积分球和光谱仪以及封闭外壳内的温度。本发明的恒温积分球光谱分析装置能够方便有效控制光谱仪的工作环境温度和积分球内的温度,本装置对实验室环境条件的依赖性较小,易实现良好的测量复现性和较高的测量精度。

    光源试验方法及其装置
    10.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101799357A

    公开(公告)日:2010-08-11

    申请号:CN200910154281.5

    申请日:2009-11-19

    发明人: 潘建根 李倩

    IPC分类号: G01M11/02 G01J1/00

    摘要: 本发明公开了一种光源试验方法,在没有外来杂散光或外来杂散光较小的环境里试验两个或两个以上被测光源,取样装置能接收每一个被测光源发射光,并将光信号送至测量仪表;可程控供电电源控制点亮或熄灭各个被测光源,测量仪表和可程控供电电源通过程控联动,可按照一定的时序工作,直接或通过计算得到每个被测光源在一定的条件和/或一定时间下的光学参数。对应的试验装置中用试验腔实现低杂散光环境,两个或两个以上被测光源设置在试验腔内,试验腔内还设有能接收来自每一个被测光源发射光的取样装置。本发明中最少用一个光测量取样装置,能实现多个光源光学参数的测量,在不影响精度的前提下,测量成本大幅降低,且操作简单方便。