公开(公告)号：CN110189297A

公开(公告)日：2019-08-30

申请号：CN201910313134.1

申请日：2019-04-18

Applicant: 杭州电子科技大学

Inventor： 何志伟 ,  江灿军 ,  高明煜

IPC: G06T7/00 ,  G06T7/136 ,  G01N21/88

Abstract: 本发明公开了一种基于灰度共生矩阵的磁性材料外观缺陷检测方法。传统人工质检不仅效率低，而且成本居高不下。本发明方法首先对磁性材料水平投影灰度图作二值化处理，计算得到磁性材料中心点定位，将源图像中的磁性材料区域平均分割成多个子区域，计算多个子区域的灰度共生矩阵，结合灰度共生矩阵的特征熵值，筛选出缺陷区域，从而实现磁性材料外观缺陷的检测。本发明方法可适用于多种磁性材料的外观缺陷检测，不仅能够解决企业实际生产过程中遇到的难题，也能弥补在该领域的技术空缺。本发明方法应用简单，检测较高效。

公开(公告)号：CN110189297B

公开(公告)日：2021-02-19

申请号：CN201910313134.1

申请日：2019-04-18

Applicant: 杭州电子科技大学

Inventor： 何志伟 ,  江灿军 ,  高明煜

IPC: G06T7/00 ,  G06T7/136 ,  G01N21/88

Abstract: 本发明公开了一种基于灰度共生矩阵的磁性材料外观缺陷检测方法。传统人工质检不仅效率低，而且成本居高不下。本发明方法首先对磁性材料水平投影灰度图作二值化处理，计算得到磁性材料中心点定位，将源图像中的磁性材料区域平均分割成多个子区域，计算多个子区域的灰度共生矩阵，结合灰度共生矩阵的特征熵值，筛选出缺陷区域，从而实现磁性材料外观缺陷的检测。本发明方法可适用于多种磁性材料的外观缺陷检测，不仅能够解决企业实际生产过程中遇到的难题，也能弥补在该领域的技术空缺。本发明方法应用简单，检测较高效。