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公开(公告)号：CN107895063A
公开(公告)日：2018-04-10
申请号：CN201710960143.0
申请日：2017-10-16
Applicant: 杭州电子科技大学
CPC classification number: G06F17/5009 , G01J3/0229 , G01J3/18 , G01J3/2823 , G01J2003/2826
Abstract: 本发明公开了一种压缩高光谱掩膜优化方法。本发明步骤如下：步骤(1)通过掩膜在系统中的位置利用几何光学，得到初始投影矩阵P0，P0是实数域上一个p×n的矩阵，即设置初始循环迭代计数变量q＝0；步骤(2)将矩阵PqD进行列标准化，得到有效地字典 步骤(3)构造Gram矩阵步骤(4)收缩Gram矩阵Gq，即更新Gram矩阵：步骤(5)利用SVD分解将收缩后的Gram矩阵 的秩降为p；步骤(6)求解Gram矩阵 的平方根Sq，使得 步骤(7)找到Pq+1使得误差最小，q＝q+1。本发明优化后的掩膜的相互一致性明显低于随机掩膜的相互一致性，重建图像的信噪比也明显得到提高。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106997581A
公开(公告)日：2017-08-01
申请号：CN201710174894.X
申请日：2017-03-22
Applicant: 杭州电子科技大学
CPC classification number: G06T3/4076 , G06N3/04
Abstract: 本发明公开了一种利用深度学习重建高光谱图像的方法。本方法为：1)通过稀疏编码的方式对高光谱训练数据集进行训练并得到一神经网络；2)对目标场景原始的高光谱图像进行空间光谱调制获得一二维传感器图像；3)利用所述神经网络对步骤2)得到的二维传感器图像进行重建，得到该目标场景的重建后的高光谱图像。本发明可以解决高光谱成像速度较慢的问题，并获取分辨率更高的高光谱图像。
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公开(公告)号：CN107024488A
公开(公告)日：2017-08-08
申请号：CN201710174896.9
申请日：2017-03-22
Applicant: 杭州电子科技大学
IPC: G01N21/958 , G01N21/01 , G01B11/30 , G06T7/00
Abstract: 本发明公开了一种玻璃缺陷检测方法。本发明步骤包括：用光源照射待检测玻璃样本，得到透射光；将透射光附带的相位信息经过傅里叶变换转换为位移信息；根据位移信息判定待检测玻璃样本是否存在缺陷；若存在缺陷，则检测存在缺陷的待检测玻璃样本的缺陷位置。本发明根据物像之间的等光程性通过光程理论建立起光程差和相位差之间的对应关系，并根据傅里叶光学中的频移性质，将待检测玻璃样本的厚度信息以透射光附带相位信息为媒介，再将相位信息转换成位移信息及光照强度信息记录在相机中，进而根据待检测玻璃样本厚度和图像灰度值之间的对应关系，通过对应的求解算法求出不同灰度值对应的样本厚度。能够快速精确的检测玻璃产品的缺陷。
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公开(公告)号：CN107024488B
公开(公告)日：2019-08-13
申请号：CN201710174896.9
申请日：2017-03-22
Applicant: 杭州电子科技大学
IPC: G01N21/958 , G01N21/01 , G01B11/30 , G06T7/00
Abstract: 本发明公开了一种玻璃缺陷检测方法。本发明步骤包括：用光源照射待检测玻璃样本，得到透射光；将透射光附带的相位信息经过傅里叶变换转换为位移信息；根据位移信息判定待检测玻璃样本是否存在缺陷；若存在缺陷，则检测存在缺陷的待检测玻璃样本的缺陷位置。本发明根据物像之间的等光程性通过光程理论建立起光程差和相位差之间的对应关系，并根据傅里叶光学中的频移性质，将待检测玻璃样本的厚度信息以透射光附带相位信息为媒介，再将相位信息转换成位移信息及光照强度信息记录在相机中，进而根据待检测玻璃样本厚度和图像灰度值之间的对应关系，通过对应的求解算法求出不同灰度值对应的样本厚度。能够快速精确的检测玻璃产品的缺陷。
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公开(公告)号：CN110501071B
公开(公告)日：2021-07-13
申请号：CN201910712003.0
申请日：2019-08-02
Applicant: 杭州电子科技大学
IPC: G01J3/28
Abstract: 本发明公开了一种基于模糊编码的压缩高光谱掩膜优化方法。本发明通过控制掩膜与聚焦平面之间的距离来控制掩膜编码的模糊程度，并将模糊程度进行量化，从而使用模糊导致灰度值变化之后的掩膜编码代替理论上的原始掩膜编码，使得重建时所用的编码更加接近实际编码。本发明只需通过系统的数值孔径、物镜焦距、光源波长、物镜放大倍数等信息来估算系统点扩散函数分布情况，并且计算出不同离焦位置处的实际模糊编码分布情况，使得投影矩阵最接近于实际数值，以实现投影矩阵的准确掌握，利于重建。仿真实验结果表明，相比于通常使用的二值化掩膜，优化后的掩膜编码更加接近于实际情况，重建图像的信噪比与光谱准确度也明显得到提高。
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公开(公告)号：CN110501071A
公开(公告)日：2019-11-26
申请号：CN201910712003.0
申请日：2019-08-02
Applicant: 杭州电子科技大学
IPC: G01J3/28
Abstract: 本发明公开了一种基于模糊编码的压缩高光谱掩膜优化方法。本发明通过控制掩膜与聚焦平面之间的距离来控制掩膜编码的模糊程度，并将模糊程度进行量化，从而使用模糊导致灰度值变化之后的掩膜编码代替理论上的原始掩膜编码，使得重建时所用的编码更加接近实际编码。本发明只需通过系统的数值孔径、物镜焦距、光源波长、物镜放大倍数等信息来估算系统点扩散函数分布情况，并且计算出不同离焦位置处的实际模糊编码分布情况，使得投影矩阵最接近于实际数值，以实现投影矩阵的准确掌握，利于重建。仿真实验结果表明，相比于通常使用的二值化掩膜，优化后的掩膜编码更加接近于实际情况，重建图像的信噪比与光谱准确度也明显得到提高。
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