一种自动测量基站天线参数的方法和系统

    公开(公告)号:CN111551150A

    公开(公告)日:2020-08-18

    申请号:CN202010296882.6

    申请日:2020-04-15

    Abstract: 一种自动测量基站天线参数的方法和系统,包括:飞行采集装置以基站抱杆为圆点飞行一周,并将采集的视频流传给天线参数测量装置;天线参数测量装置将视频流输入目标跟踪分析模型,输出跟踪到的所有天线目标信息;继续将每个天线目标的天线目标信息输入目标截图筛选模型,输出由每个天线目标在正侧面->正面->正侧面这一过程的所有目标截图所构成的一个目标截图序列;再将每个天线目标的目标截图序列中的每张目标截图输入至目标轮廓拟合模型,并输出每张目标截图中天线目标的轮廓信息;根据每个天线目标的目标截图序列中的所有目标截图及轮廓信息,计算每个天线目标的参数。本发明属于信息技术领域,能有效提高自动测量精度,并避免外部干扰。

    一种基于线阵相机的印刷品图案走位缺陷检测方法

    公开(公告)号:CN115631134A

    公开(公告)日:2023-01-20

    申请号:CN202211144124.8

    申请日:2022-09-20

    Abstract: 一种基于线阵相机的印刷品图案走位缺陷检测方法,包括:标定工业线阵相机;将标准模板样品放置于运动平台上,采集模板图像,选取2个检测区域,计算检测区域的顶点和中心点的三维坐标,并计算2个检测区域的空间距离;将待检测样品放置于运动平台上,采集待检图像,然后在待检图像上找到与模板图像的2个检测区域分别对应的待检区域,计算待检区域的顶点和中心点的三维坐标,并计算2个待检区域的空间距离;判断待检图像2个待检区域的空间距离与模板图像2个检测区域的空间距离的差值是否小于阈值,如果是,则待检测样品是良品;如果否,则待检测样品是不良品。本发明涉及机器视觉领域,能基于现有二维检测硬件实现印刷品图案走位缺陷检测。

    一种自动测量基站天线参数的方法和系统

    公开(公告)号:CN111551150B

    公开(公告)日:2022-04-15

    申请号:CN202010296882.6

    申请日:2020-04-15

    Abstract: 一种自动测量基站天线参数的方法和系统,包括:飞行采集装置以基站抱杆为圆点飞行一周,并将采集的视频流传给天线参数测量装置;天线参数测量装置将视频流输入目标跟踪分析模型,输出跟踪到的所有天线目标信息;继续将每个天线目标的天线目标信息输入目标截图筛选模型,输出由每个天线目标在正侧面‑>正面‑>正侧面这一过程的所有目标截图所构成的一个目标截图序列;再将每个天线目标的目标截图序列中的每张目标截图输入至目标轮廓拟合模型,并输出每张目标截图中天线目标的轮廓信息;根据每个天线目标的目标截图序列中的所有目标截图及轮廓信息,计算每个天线目标的参数。本发明属于信息技术领域,能有效提高自动测量精度,并避免外部干扰。

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