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公开(公告)号:CN101960274B
公开(公告)日:2012-10-03
申请号:CN200980106782.4
申请日:2009-02-26
Applicant: 本田技研工业株式会社
CPC classification number: G01L3/102 , B62D6/10 , G01L3/103 , G01L3/105 , Y10T29/49007 , Y10T29/4902
Abstract: 提供了一种用于检测对杆形轴(11)施加的轴线上的旋转扭矩的磁致伸缩扭矩传感器(10),其基于轴(11)的表面上且围绕整个圆周形成的磁致伸缩膜的磁特性的改变。磁致伸缩膜(14)轴向地连续形成在所述轴轴向的一部分上。磁致伸缩膜(14)包括连续形成但彼此具有方向相反的磁各向异性的第一磁致伸缩膜部分(14A)和第二磁致伸缩膜部分(14B)以及形成在第一和第二磁致伸缩膜部分之间的第三磁致伸缩膜部分(14C)。而且,分别为第一磁致伸缩膜部分、第二磁致伸缩膜部分和第三磁致伸缩膜部分设置第一检测线圈(13A)、第二检测线圈(13B)和第三检测线圈(13C)。
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公开(公告)号:CN101960274A
公开(公告)日:2011-01-26
申请号:CN200980106782.4
申请日:2009-02-26
Applicant: 本田技研工业株式会社
CPC classification number: G01L3/102 , B62D6/10 , G01L3/103 , G01L3/105 , Y10T29/49007 , Y10T29/4902
Abstract: 提供了一种用于检测对杆形轴(11)施加的轴线上的旋转扭矩的磁致伸缩扭矩传感器(10),其基于轴(11)的表面上且围绕整个圆周形成的磁致伸缩膜的磁特性的改变。磁致伸缩膜(14)轴向地连续形成在所述轴轴向的一部分上。磁致伸缩膜(14)包括连续形成但彼此具有方向相反的磁各向异性的第一磁致伸缩膜部分(14A)和第二磁致伸缩膜部分(14B)以及形成在第一和第二磁致伸缩膜部分之间的第三磁致伸缩膜部分(14C)。而且,分别为第一磁致伸缩膜部分、第二磁致伸缩膜部分和第三磁致伸缩膜部分设置第一检测线圈(13A)、第二检测线圈(13B)和第三检测线圈(13C)。
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公开(公告)号:CN103765230A
公开(公告)日:2014-04-30
申请号:CN201280041730.5
申请日:2012-04-26
Applicant: 本田技研工业株式会社
CPC classification number: G01R19/0092 , G01R15/207 , H02M7/003 , H02M2001/0009
Abstract: 本发明提供一种能够在完成品的组装之前补正电流检测灵敏度并且能够实现较高的耐机械冲击性的电流检测电路模块。电流检测电路模块(11)具备:安装了对功率模块(5)进行控制的控制用IC(7)的控制电路基板(9);包围从上述功率模块(5)延伸的母线(15),且在一部分具有间隙(27)的磁芯(21);配置于上述间隙(27)之中的磁检测元件(40);以及按照上述磁检测元件(40)的输出来向上述控制用IC(7)输出在上述母线(15)中流动的电流值的检测信号的检测电路(44);在上述控制电路基板(9)上安装上述检测电路(44),在上述控制电路基板(9)中具备由与基板面垂直地配置上述母线(15)的切口所形成的连通部(29),在上述控制电路基板(9)上安装上述磁芯使之包围穿过上述连通部(29)的母线(15),在上述控制电路基板(9)上安装上述磁检测元件(40)使之位于该磁芯(21)的间隙(27)之中。
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