公开(公告)号：CN107179177A

公开(公告)日：2017-09-19

申请号：CN201610136208.5

申请日：2016-03-10

Applicant: 晶元光电股份有限公司

Inventor： 赵堂钟 ,  尤家鸿 ,  曾培翔 ,  陈达享

IPC: G01M11/02 ,  G01J1/04

CPC classification number: G01M11/02 ,  G01J1/0403 ,  G01M11/0214

Abstract: 本发明提供一种发光二极体的光学检测装置，包括：一载具，包括：一承载台，用以承载待检测的发光二极体，该承载台具有一第一表面及与该第一表面相对的一第二表面；一支撑体，连接于该承载台，且该支撑体具有一凸部凸伸于该承载台的第一表面，以使该支撑体及该承载台共同围设形成一凹穴；一第一真空孔，设于该支撑体，且该第一真空孔与该凹穴连通；以及一收光器，是朝向该承载台设置。

公开(公告)号：CN106595851A

公开(公告)日：2017-04-26

申请号：CN201510673800.4

申请日：2015-10-16

Applicant: 晶元光电股份有限公司

Inventor： 吴佳裕 ,  曾俊龙 ,  沈庆兴 ,  赵堂钟 ,  林盟凯 ,  陈达享 ,  曾培翔 ,  王建伟 ,  尤家鸿

IPC: G01J1/00 ,  G01J1/02

Abstract: 本发明公开一种发光装置的测试设备，包含一积分球、一探针用以在测试上述发光装置时传导一电流至上述发光装置、以及一连接部与上述积分球相接；其中，上述连接部具有一开孔或缺口，上述探针穿过上述开孔或缺口，且上述连接部具有一光输入口用以接收上述发光装置所发出的光。

公开(公告)号：CN107179177B

公开(公告)日：2022-04-01

申请号：CN201610136208.5

申请日：2016-03-10

Applicant: 晶元光电股份有限公司

Inventor： 赵堂钟 ,  尤家鸿 ,  曾培翔 ,  陈达享

IPC: G01M11/02 ,  G01J1/04

Abstract: 本发明提供一种发光二极管的光学检测装置，用以检测发光二极管，包括：一载具，包括：一承载台，用以承载待检测的发光二极管，该承载台具有一第一表面及与该第一表面相对的一第二表面；一支撑体，连接于该承载台，且该支撑体具有一凸部凸伸于该承载台的第一表面，以使该支撑体及该承载台共同围设形成一凹穴；一第一真空孔，设于该支撑体，且该第一真空孔与该凹穴连通；一收光器，是朝向该承载台设置；以及一波长转换组件，设于该承载台或该收光器。

公开(公告)号：CN103925991A

公开(公告)日：2014-07-16

申请号：CN201310082594.0

申请日：2013-03-15

Applicant: 晶元光电股份有限公司

Inventor： 赵堂钟 ,  曾培翔 ,  郭佳宽 ,  吴冠宏 ,  苏远豪 ,  何启新 ,  许嘉良 ,  吕志强

IPC: G01J1/00

Abstract: 本发明公开一种发光装置的测试方法及设备。该方法包含步骤：提供一积分球，包含一进入口及一第一出口；摆置发光装置接近积分球的进入口；提供一电流源，可驱动该发光装置于驱动状态下形成一图像；提供一图像接收装置，可接收发光装置的图像，其中图像接收装置与积分球的第一出口连接；以及依据图像决定发光装置的发光强度。本发明也公开一种测试发光装置的设备，包含：一积分球，包含一进入口及一第一出口，其中发光装置接近于积分球的进入口；一图像接收装置，与积分球的第一出口连接，并可接收发光装置的图像；以及一处理单元，与图像接收装置连接以确定发光装置的发光强度。

公开(公告)号：CN205406496U

公开(公告)日：2016-07-27

申请号：CN201620184223.2

申请日：2016-03-10

Applicant: 晶元光电股份有限公司

Inventor： 曾培翔 ,  赵堂钟 ,  尤家鸿 ,  陈达享 ,  苏信铭 ,  詹佳翰

IPC: H01L21/66 ,  G01R31/26

Abstract: 一种发光二极体的光学检测装置，包括：一承载台用以承载一待检测的发光二极体的一发光面；一收光器，包含一收光端及一出光端，该收光端是朝向该承载台设置；及一波长转换元件，设于该待检测发光二极体的发光面与该收光器的出光端之间。