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公开(公告)号：CN103839119B
公开(公告)日：2016-12-21
申请号：CN201210477253.9
申请日：2012-11-22
Applicant: 景硕科技股份有限公司
IPC: G06F19/00 , G06Q10/06 , G01N21/956
Abstract: 本发明提供一种终端缺陷检验的方法，包含：准备检验设备步骤、原点补正步骤、扫描条形码步骤、缺陷检查步骤、缺陷区域划记步骤以及产生出货档案步骤，终端检验设备包含主机、显微镜、条形码扫描仪、承载治具、信号接收传送装置，在原点补正后观察到缺陷时，以电磁笔在发现缺陷的检验区上划记，信号接收传送接收划记位置，并传送至主机，主机根据原点补正时所产生的主机板轮廓中的原点及划记位置的相对位置计算出报废区的坐标，并产生出货档案，而能避免数据输入错误、划记与输入数据不合的问题，同时取代以黑笔与白漆标记来减低工作板件污染的风险。
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公开(公告)号：CN103837539B
公开(公告)日：2016-08-03
申请号：CN201210477373.9
申请日：2012-11-22
Applicant: 景硕科技股份有限公司
Abstract: 本发明提供一种终端检验系统，包含主机、显微镜、条形码扫描仪、承载治具、信号接收传送装置及电磁笔，条形码扫描仪用以扫描装设于承载治具中的电路板上的条形码，主机依照条形码从数据库选出对应的线路布局图案，信号接收传送装置与主机及电磁笔电气连接，当显微镜下检验电路板上的检验区发现缺陷时，在检验区上以电磁笔划记，信号接收传送装置接收划记位置，并将划记位置传送到主机中，主机根据原点补正时定义的原点与划记位置的相对位置运算出报废区域坐标，自动读取电路板数据并运算出报废位置，取代传统以黑笔与白漆标记，而减低工作板件污染的风险。
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公开(公告)号：CN103839119A
公开(公告)日：2014-06-04
申请号：CN201210477253.9
申请日：2012-11-22
Applicant: 景硕科技股份有限公司
IPC: G06Q10/06 , G01N21/956
Abstract: 本发明提供一种终端缺陷检验的方法，包含：准备检验设备步骤、原点补正步骤、扫描条形码步骤、缺陷检查步骤、缺陷区域划记步骤以及产生出货档案步骤，终端检验设备包含主机、显微镜、条形码扫描仪、承载治具、信号接收传送装置，在原点补正后观察到缺陷时，以电磁笔在发现缺陷的检验区上划记，信号接收传送接收划记位置，并传送至主机，主机根据原点补正时所产生的主机板轮廓中的原点及划记位置的相对位置计算出报废区的坐标，并产生出货档案，而能避免数据输入错误、划记与输入数据不合的问题，同时取代以黑笔与白漆标记来减低工作板件污染的风险。
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公开(公告)号：CN103837539A
公开(公告)日：2014-06-04
申请号：CN201210477373.9
申请日：2012-11-22
Applicant: 景硕科技股份有限公司
Abstract: 本发明提供一种终端检验系统，包含主机、显微镜、条形码扫描仪、承载治具、信号接收传送装置及电磁笔，条形码扫描仪用以扫描装设于承载治具中的电路板上的条形码，主机依照条形码从数据库选出对应的线路布局图案，信号接收传送装置与主机及电磁笔电气连接，当显微镜下检验电路板上的检验区发现缺陷时，在检验区上以电磁笔划记，信号接收传送装置接收划记位置，并将划记位置传送到主机中，主机根据原点补正时定义的原点与划记位置的相对位置运算出报废区域坐标，自动读取电路板数据并运算出报废位置，取代传统以黑笔与白漆标记，而减低工作板件污染的风险。
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