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公开(公告)号：CN100344981C
公开(公告)日：2007-10-24
申请号：CN02130176.X
申请日：2002-08-23
申请人： 易通公司
IPC分类号： G01R31/02
CPC分类号： H02H1/0015 , B60L3/0023 , H02H1/04
摘要： 在遭受循环干扰的dc电气系统(1)中用一个电流传感器(13)检测电弧，并用一个对电弧噪声敏感的带通滤波器(17)对传感器电流滤波。在一个可复位的模拟积分器(27)中按照重复的间隔对带通滤波信号(19)的绝对值积分。用一个廉价的微处理器(25)按照低于通带的频率采样并将模拟积分器(17)复位，并产生采样的时间衰减积累，如果它达到预定的限制就产生一个电弧信号。为了改善抗干扰性，在一个高速比较器(37)中将检测的dc电流(15)与平均检测dc电流(35)相比较，仅仅积累微处理器(25)在检测的dc电流(15)超过平均检测dc电流(35)之后的预定时间周期期间提取的采样。微处理器(25)还用平均检测dc电流(35)提供过载保护。
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公开(公告)号：CN1407345A
公开(公告)日：2003-04-02
申请号：CN02130176.X
申请日：2002-08-23
申请人： 易通公司
CPC分类号： H02H1/0015 , B60L3/0023 , H02H1/04
摘要： 在遭受循环干扰的dc电气系统(1)中用一个电流传感器(13)检测电弧，并用一个对电弧噪声敏感的带通滤波器(17)对传感器电流滤波。在一个可复位的模拟积分器(27)中按照重复的间隔对带通滤波信号(19)的绝对值积分。用一个廉价的微处理器(25)按照低于通带的频率采样并将模拟积分器(17)复位，并产生采样的时间衰减积累，如果它达到预定的限制就产生一个电弧信号。为了改善抗干扰性，在一个高速比较器(37)中将检测的dc电流(15)与平均检测dc电流(35)相比较，仅仅积累微处理器(25)在检测的dc电流(15)超过平均检测dc电流(35)之后的预定时间周期期间提取的采样。微处理器(25)还用平均检测dc电流(35)提供过载保护。
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公开(公告)号：CN100341219C
公开(公告)日：2007-10-03
申请号：CN02149899.7
申请日：2002-09-28
申请人： 易通公司
IPC分类号： H02H3/08
CPC分类号： H02H3/0935 , H02H1/0015
摘要： 通过提供几种保护电平的电路保护电设备(14)避免由于并联电弧故障引起的损坏。半导体开关(18)和电流传感器(24)与电设备(14)串联设置。当到达所述设备的电流超过第一阈值一个预定的时段时，使半导体开关(18)为非导通，直到特地将所述电路复位。当到达所述设备的电流超过更大的第二阈值时，脉冲信号使半导体开关(18)交替处于导通和非导通状态，以致提供到所述设备(14)的平均电流处于可接受水平之内。测量脉冲以便确定是否已经发生并联电弧故障。当测量的脉冲(74)处于预定范围之内，宣布并联电弧故障，使半导体开关(18)非导通。如果所述电流大于甚至更大的第三阈值，就立即使半导体开关(18)非导通，直到电路人为地被复位。
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公开(公告)号：CN1417913A
公开(公告)日：2003-05-14
申请号：CN02149899.7
申请日：2002-09-28
申请人： 易通公司
IPC分类号： H02H3/08
CPC分类号： H02H3/0935 , H02H1/0015
摘要： 通过提供几种保护电平的电路保护电设备(14)避免由于并联电弧故障引起的损坏。半导体开关(18)和电流传感器(24)与电设备(14)串联设置。当到达所述设备的电流超过第一阈值一个预定的时段时，使半导体开关(18)为非导通，直到特地将所述电路复位。当到达所述设备的电流超过更大的第二阈值时，脉冲信号使半导体开关(18)交替处于导通和非导通状态，以致提供到所述设备(14)的平均电流处于可接受水平之内。测量脉冲以便确定是否已经发生并联电弧故障。当测量的脉冲(74)处于预定范围之内，宣布并联电弧故障，使半导体开关(18)非导通。如果所述电流大于甚至更大的第三阈值，就立即使半导体开关(18)非导通，直到电路人为地被复位。
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