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公开(公告)号：CN104569137B
公开(公告)日：2018-07-17
申请号：CN201410542469.8
申请日：2014-10-14
Applicant: 日立金属株式会社
Abstract: 本发明提供一种结构小型且简单却能够高精度检测被检测物的磁导率变化的磁导率传感器、以及使用磁导率传感器的磁导率检测方法。磁导率传感器包括：第一线圈1和第二线圈2；包含第一线圈1并发生振荡的第一振荡电路6；包含第二线圈2并发生振荡的第二振荡电路7；分别测量第一振荡电路6和第二振荡电路7中的振荡频率的测量部41；计算测量部41所测量的振荡频率的差的计算部42；以及将计算部42计算出的差变换为磁导率的变换部43。
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公开(公告)号：CN104569137A
公开(公告)日：2015-04-29
申请号：CN201410542469.8
申请日：2014-10-14
Applicant: 日立金属株式会社
Abstract: 本发明提供一种结构小型且简单却能够高精度检测被检测物的磁导率变化的磁导率传感器、以及使用磁导率传感器的磁导率检测方法。磁导率传感器包括：第一线圈1和第二线圈2；包含第一线圈1并发生振荡的第一振荡电路6；包含第二线圈2并发生振荡的第二振荡电路7；分别测量第一振荡电路6和第二振荡电路7中的振荡频率的测量部41；计算测量部41所测量的振荡频率的差的计算部42；以及将计算部42计算出的差变换为磁导率的变换部43。
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公开(公告)号：CN204228660U
公开(公告)日：2015-03-25
申请号：CN201420593694.X
申请日：2014-10-14
Applicant: 日立金属株式会社
Abstract: 本实用新型提供一种结构小型且简单却能够高精度检测被检测物的磁导率变化的磁导率传感器。磁导率传感器包括：第一线圈1和第二线圈2；包含第一线圈1并发生振荡的第一振荡电路6；包含第二线圈2并发生振荡的第二振荡电路7；分别测量第一振荡电路6和第二振荡电路7中的振荡频率的测量部41；计算测量部41所测量的振荡频率的差的计算部42；以及将计算部42计算出的差变换为磁导率的变换部43。
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