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发明公开
电流检测装置审中-实审

公开(公告)号：CN113853522A

公开(公告)日：2021-12-28

申请号：CN202080037882.2

申请日：2020-05-19

Applicant: 日立安斯泰莫株式会社

Inventor： 笹沼宣之 , 加藤刚

IPC: G01R1/18 , G01R15/20 , G01R19/00

Abstract: 本发明的电流检测装置的磁屏蔽部(3u、3v)中形成有弯曲部(30u、30v)，使得在形成开口部(5u)的端部(6u)附近，随着接近端部(6u)，开口部(5u)的开口面积逐渐变大。当着眼于U相和其相邻相V相时，由于在V相导体(Bv)中流过的电流的影响，磁场(Bvu)从V相向U相输入到磁屏蔽部(3u)，但磁场(Bvu)被弯曲部(30u、30v)所引导，并集中到磁屏蔽部(3u)的开口部(5u)的端部(6u)。即，由于弯曲部(30u、30v)之间的空隙较窄，因此局部磁阻变小，磁通能集中在弯曲部(30u、30v)，并且能减少流入磁屏蔽部(3u)内部的磁通。因此，磁检测元件(2u)不容易受到来自相邻相的磁场的影响。

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