公开(公告)号：CN115705968A

公开(公告)日：2023-02-17

申请号：CN202110936940.1

申请日：2021-08-16

Applicant: 施耐德电器工业公司

Inventor： 付凯亮 ,  王远钟 ,  金辰

IPC: H01H9/30 ,  H01H50/54 ,  G06F17/18

Abstract: 本公开提供一种用于接触器的电弧分析方法和电弧分析设备，该电弧分析方法包括：执行动触头和静触头的吸合和分离；执行采集操作，该采集操作包括采集在动触头和静触头吸合和分离预定采集次数期间的接触器的主回路的电压数据和电流数据；执行电弧分析操作，该电弧分析操作包括：确定所采集的电压数据和电流数据中的对应于动触头和静触头的各次分离所产生的电弧的电压数据和电流数据；基于对应于动触头和静触头的各次分离所产生的电弧的电压数据和电流数据来确定接触器的对应于各次分离的各个电弧特征值；以及基于所确定的对应于各次分离的各个电弧特征值来确定接触器的电弧特征值。

公开(公告)号：CN115598510A

公开(公告)日：2023-01-13

申请号：CN202110784055.6

申请日：2021-07-12

Applicant: 施耐德电器工业公司(FR)

Inventor： 付凯亮 ,  田海锋

IPC: G01R31/327 ,  H01H50/18

Abstract: 本公开提供了一种用于接触器的分析方法，该方法包括：向动铁芯施加吸合力以使动铁芯向靠近静铁芯的方向匀速运动从而执行吸合过程，并且在吸合过程中采集多个吸合数据，多个吸合数据包括在吸合过程中的动铁芯的位移和吸合力的大小；向动铁芯施加释放力以使动铁芯向远离静铁芯的方向匀速运动从而执行释放过程，并且在释放过程中采集多个释放数据，多个释放数据包括在释放过程中的动铁芯的位移和释放力的大小；以及基于多个吸合数据和多个释放数据确定接触器内部是否存在故障。