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发明公开
接触器静态分析方法和分析设备审中-实审

公开(公告)号：CN115598510A

公开(公告)日：2023-01-13

申请号：CN202110784055.6

申请日：2021-07-12

Applicant: 施耐德电器工业公司(FR)

Inventor： 付凯亮 , 田海锋

IPC: G01R31/327 , H01H50/18

Abstract: 本公开提供了一种用于接触器的分析方法，该方法包括：向动铁芯施加吸合力以使动铁芯向靠近静铁芯的方向匀速运动从而执行吸合过程，并且在吸合过程中采集多个吸合数据，多个吸合数据包括在吸合过程中的动铁芯的位移和吸合力的大小；向动铁芯施加释放力以使动铁芯向远离静铁芯的方向匀速运动从而执行释放过程，并且在释放过程中采集多个释放数据，多个释放数据包括在释放过程中的动铁芯的位移和释放力的大小；以及基于多个吸合数据和多个释放数据确定接触器内部是否存在故障。

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