用于连续测定膜污染指数的装置和方法

    公开(公告)号:CN106362598A

    公开(公告)日:2017-02-01

    申请号:CN201610559680.X

    申请日:2016-07-15

    Inventor: 金志勋 金炯秀

    Abstract: 本发明提供一种用于测定膜污染指数的装置和使用其的测定方法,所述装置包括:具有容纳在其中的过滤膜的过滤膜室,用于对膜污染指数待测定的原水进行膜过滤处理;计算和控制单元,用于测定通过过滤膜在预配置流速和预配置压力下对一次原水进行膜过滤处理所消耗的时间T0、在其期间在对一次原水进行膜过滤处理之后对原水另外进行膜过滤处理的预配置时间T和通过所述过滤膜在预配置流速和预配置压力下对二次原水进行膜过滤处理所消耗的时间T1,并基于所测定的时间T0、T和T1计算过滤膜的膜污染指数;和清洗单元,用于清洗所述过滤膜使得能够重复使用所述过滤膜。

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