公开(公告)号：CN114113819B

公开(公告)日：2025-03-07

申请号：CN202110974452.X

申请日：2021-08-24

Applicant: 意法半导体股份有限公司

Inventor： M·唐蒂尼 ,  R·克里萨富利 ,  C·A·特雷卡里基 ,  V·兰达佐

IPC: G01R31/00 ,  G01R31/316 ,  G01R31/52 ,  G01R31/74

Abstract: 本公开的实施例涉及电子器件及对应的自测试方法。电子器件(诸如，e‑fuse)包括被配置为设置为一个或多个自测试配置的模拟电路装置。为此，器件具有自测试控制器电路装置，自测试控制器电路装置包括：模拟配置和感测电路，被配置为将模拟电路装置设置为一个或多个自测试配置，并感测在被设置为这种自测试配置的模拟电路装置中出现的测试信号；数据采集电路，配置为采集在模拟感测电路装置处感测到的测试信号并将感测到的测试信号转换为数字；及故障事件检测电路，被配置为对照参考参数检查转换为数字的测试信号。器件包括集成在其中的自测试控制器，自测试控制器被配置为在测试定序器的协调下控制器件的零件或级以配置电路、获取数据和控制测试执行。

公开(公告)号：CN114113819A

公开(公告)日：2022-03-01

申请号：CN202110974452.X

申请日：2021-08-24

Applicant: 意法半导体股份有限公司

Inventor： M·唐蒂尼 ,  R·克里萨富利 ,  C·A·特雷卡里基 ,  V·兰达佐

IPC: G01R31/00 ,  G01R31/316 ,  G01R31/52 ,  G01R31/74

Abstract: 本公开的实施例涉及电子器件及对应的自测试方法。电子器件(诸如，e‑fuse)包括被配置为设置为一个或多个自测试配置的模拟电路装置。为此，器件具有自测试控制器电路装置，自测试控制器电路装置包括：模拟配置和感测电路，被配置为将模拟电路装置设置为一个或多个自测试配置，并感测在被设置为这种自测试配置的模拟电路装置中出现的测试信号；数据采集电路，配置为采集在模拟感测电路装置处感测到的测试信号并将感测到的测试信号转换为数字；及故障事件检测电路，被配置为对照参考参数检查转换为数字的测试信号。器件包括集成在其中的自测试控制器，自测试控制器被配置为在测试定序器的协调下控制器件的零件或级以配置电路、获取数据和控制测试执行。