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公开(公告)号:CN105277278A
公开(公告)日:2016-01-27
申请号:CN201510284644.2
申请日:2015-05-28
Applicant: 意法半导体股份有限公司
IPC: G01J1/42
CPC classification number: G01J1/429 , G01J1/0219 , G01J1/44 , G01J2001/083 , G01J2001/4266 , G01J2001/444
Abstract: 本发明的各个实施例涉及用于UV指数检测的半导体集成器件以及相关的校准系统和方法。一种用于检测UV指数的集成器件(1)被设置有:光检测器(2),根据检测到的UV辐射,生成检测量(Ipuvd);以及处理级(6),耦合至光检测器(2),并且根据检测量(Ipuvd)在输出处提供UV指数的检测值(UVdet)。处理级(6)基于调节因子(Gtrim)对检测量(Ipuvd)进行处理,以在输出处提供UV指数的检测值(UVdet);并且进一步被设置有:调节级(4),耦合至处理级(6),用于对调节因子(Gtrim)的值进行调节。
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公开(公告)号:CN109141630A
公开(公告)日:2019-01-04
申请号:CN201810937244.0
申请日:2015-05-28
Applicant: 意法半导体股份有限公司
Abstract: 本发明的各个实施例涉及用于UV指数检测的半导体集成器件及校准系统和方法。一种用于检测UV指数的集成器件(1)被设置有:光检测器(2),根据检测到的UV辐射,生成检测量(Ipuvd);以及处理级(6),耦合至光检测器(2),并且根据检测量(Ipuvd)在输出处提供UV指数的检测值(UVdet)。处理级(6)基于调节因子(Gtrim)对检测量(Ipuvd)进行处理,以在输出处提供UV指数的检测值(UVdet);并且进一步被设置有:调节级(4),耦合至处理级(6),用于对调节因子(Gtrim)的值进行调节。
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公开(公告)号:CN105277278B
公开(公告)日:2018-09-14
申请号:CN201510284644.2
申请日:2015-05-28
Applicant: 意法半导体股份有限公司
IPC: G01J1/42
Abstract: 本发明的各个实施例涉及用于UV指数检测的半导体集成器件以及相关的校准系统和方法。一种用于检测UV指数的集成器件(1)被设置有:光检测器(2),根据检测到的UV辐射,生成检测量(Ipuvd);以及处理级(6),耦合至光检测器(2),并且根据检测量(Ipuvd)在输出处提供UV指数的检测值(UVdet)。处理级(6)基于调节因子(Gtrim)对检测量(Ipuvd)进行处理,以在输出处提供UV指数的检测值(UVdet);并且进一步被设置有:调节级(4),耦合至处理级(6),用于对调节因子(Gtrim)的值进行调节。
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公开(公告)号:CN205049238U
公开(公告)日:2016-02-24
申请号:CN201520358184.9
申请日:2015-05-28
Applicant: 意法半导体股份有限公司
IPC: G01J1/42
CPC classification number: G01J1/429 , G01J1/0219 , G01J1/44 , G01J2001/083 , G01J2001/4266 , G01J2001/444
Abstract: 本实用新型的各个实施例涉及检测紫外辐射的紫外指数的集成器件、电子设备和校准系统。一种用于检测UV指数的集成器件(1)被设置有:光检测器(2),根据检测到的UV辐射,生成检测量(Ipuvd);以及处理级(6),耦合至光检测器(2),并且根据检测量(Ipuvd)在输出处提供UV指数的检测值(UVdet)。处理级(6)基于调节因子(Gtrim)对检测量(Ipuvd)进行处理,以在输出处提供UV指数的检测值(UVdet);并且进一步被设置有:调节级(4),耦合至处理级(6),用于对调节因子(Gtrim)的值进行调节。
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