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公开(公告)号：CN105277278A
公开(公告)日：2016-01-27
申请号：CN201510284644.2
申请日：2015-05-28
Applicant: 意法半导体股份有限公司
IPC: G01J1/42
CPC classification number: G01J1/429 , G01J1/0219 , G01J1/44 , G01J2001/083 , G01J2001/4266 , G01J2001/444
Abstract: 本发明的各个实施例涉及用于UV指数检测的半导体集成器件以及相关的校准系统和方法。一种用于检测UV指数的集成器件(1)被设置有：光检测器(2)，根据检测到的UV辐射，生成检测量(Ipuvd)；以及处理级(6)，耦合至光检测器(2)，并且根据检测量(Ipuvd)在输出处提供UV指数的检测值(UVdet)。处理级(6)基于调节因子(Gtrim)对检测量(Ipuvd)进行处理，以在输出处提供UV指数的检测值(UVdet)；并且进一步被设置有：调节级(4)，耦合至处理级(6)，用于对调节因子(Gtrim)的值进行调节。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111800910A
公开(公告)日：2020-10-20
申请号：CN202010261307.2
申请日：2020-04-03
Applicant: 意法半导体股份有限公司
Abstract: 本公开的各实施例涉及光组件和用于操作其的方法。在一个实施例中，一种光组件包括：基底；由基底支撑的发光设备；可渗透挥发性化合物的盖，完全包围发光设备并且对在使用期间由发光设备发射的光通量是透明；气体传感器，被配置为感测挥发性化合物，气体传感器被布置在盖内。光组件包括泵，泵具有可操作地耦合到所述盖的入口，并且可操作用于在所述盖内生成压力降低。所组件包括光传感器，光传感器可操作地耦合到发光设备，光传感器被配置为感测光通量的至少一个光分量的光强度值。光组件包括：可操作地耦合到气体传感器、所述光传感器和泵的处理器；非易失性存储器，存储要在处理器中执行的程序。
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公开(公告)号：CN109141630A
公开(公告)日：2019-01-04
申请号：CN201810937244.0
申请日：2015-05-28
Applicant: 意法半导体股份有限公司
Abstract: 本发明的各个实施例涉及用于UV指数检测的半导体集成器件及校准系统和方法。一种用于检测UV指数的集成器件(1)被设置有：光检测器(2)，根据检测到的UV辐射，生成检测量(Ipuvd)；以及处理级(6)，耦合至光检测器(2)，并且根据检测量(Ipuvd)在输出处提供UV指数的检测值(UVdet)。处理级(6)基于调节因子(Gtrim)对检测量(Ipuvd)进行处理，以在输出处提供UV指数的检测值(UVdet)；并且进一步被设置有：调节级(4)，耦合至处理级(6)，用于对调节因子(Gtrim)的值进行调节。
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公开(公告)号：CN111800910B
公开(公告)日：2022-10-28
申请号：CN202010261307.2
申请日：2020-04-03
Applicant: 意法半导体股份有限公司
Abstract: 本公开的各实施例涉及光组件和用于操作其的方法。在一个实施例中，一种光组件包括：基底；由基底支撑的发光设备；可渗透挥发性化合物的盖，完全包围发光设备并且对在使用期间由发光设备发射的光通量是透明；气体传感器，被配置为感测挥发性化合物，气体传感器被布置在盖内。光组件包括泵，泵具有可操作地耦合到所述盖的入口，并且可操作用于在所述盖内生成压力降低。所组件包括光传感器，光传感器可操作地耦合到发光设备，光传感器被配置为感测光通量的至少一个光分量的光强度值。光组件包括：可操作地耦合到气体传感器、所述光传感器和泵的处理器；非易失性存储器，存储要在处理器中执行的程序。
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公开(公告)号：CN105277278B
公开(公告)日：2018-09-14
申请号：CN201510284644.2
申请日：2015-05-28
Applicant: 意法半导体股份有限公司
IPC: G01J1/42
Abstract: 本发明的各个实施例涉及用于UV指数检测的半导体集成器件以及相关的校准系统和方法。一种用于检测UV指数的集成器件(1)被设置有：光检测器(2)，根据检测到的UV辐射，生成检测量(Ipuvd)；以及处理级(6)，耦合至光检测器(2)，并且根据检测量(Ipuvd)在输出处提供UV指数的检测值(UVdet)。处理级(6)基于调节因子(Gtrim)对检测量(Ipuvd)进行处理，以在输出处提供UV指数的检测值(UVdet)；并且进一步被设置有：调节级(4)，耦合至处理级(6)，用于对调节因子(Gtrim)的值进行调节。
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公开(公告)号：CN205049238U
公开(公告)日：2016-02-24
申请号：CN201520358184.9
申请日：2015-05-28
Applicant: 意法半导体股份有限公司
IPC: G01J1/42
CPC classification number: G01J1/429 , G01J1/0219 , G01J1/44 , G01J2001/083 , G01J2001/4266 , G01J2001/444
Abstract: 本实用新型的各个实施例涉及检测紫外辐射的紫外指数的集成器件、电子设备和校准系统。一种用于检测UV指数的集成器件(1)被设置有：光检测器(2)，根据检测到的UV辐射，生成检测量(Ipuvd)；以及处理级(6)，耦合至光检测器(2)，并且根据检测量(Ipuvd)在输出处提供UV指数的检测值(UVdet)。处理级(6)基于调节因子(Gtrim)对检测量(Ipuvd)进行处理，以在输出处提供UV指数的检测值(UVdet)；并且进一步被设置有：调节级(4)，耦合至处理级(6)，用于对调节因子(Gtrim)的值进行调节。
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