图像处理方法、涂装检查方法和涂装检查系统

    公开(公告)号:CN101727664B

    公开(公告)日:2012-08-22

    申请号:CN200910204678.0

    申请日:2009-10-10

    CPC classification number: G06T7/0004 G01N21/8851 G06T2207/30156

    Abstract: 本发明提供一种图像处理方法、涂装检查方法和涂装检查系统。在图像处理方法中,首先,从构成原图像数据的像素中,以预定间距按顺序逐个地拾取像素。将它们设定为基准像素。接着,针对每个基准像素设定接近区域,并且计算每个接近区域中的类似密度的平均值。然后,针对每个基准像素设定宽区域,并且计算每个宽区域中的类似密度的平均值。最后,从原图像的图像数据中减去宽区域中的类似密度的平均值,得到它们之间的差。

    表面检查装置
    4.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101726499B

    公开(公告)日:2012-07-18

    申请号:CN200910204673.8

    申请日:2009-10-10

    Abstract: 本发明提供一种表面检查装置,包括:照射单元(2),其具有分别发出具有不同波长范围的多个照明光束的多个光源(12、13、14);以及成像单元(3),其将由检查表面(Wa)对从照射单元(2)的光源(12、13、14)发出的光束的反射所得到的反射光分光成具有不同波长范围的多个光分量,并且捕获与反射光分量对应的图像。多个光源(12、13、14)在保持与检查表面对置的状态的同时按给定顺序彼此相邻地放置。

    图像处理方法、涂装检查方法和涂装检查系统

    公开(公告)号:CN101727664A

    公开(公告)日:2010-06-09

    申请号:CN200910204678.0

    申请日:2009-10-10

    CPC classification number: G06T7/0004 G01N21/8851 G06T2207/30156

    Abstract: 本发明提供一种图像处理方法、涂装检查方法和涂装检查系统。在图像处理方法中,首先,从构成原图像数据的像素中,以预定间距按顺序逐个地拾取像素。将它们设定为基准像素。接着,针对每个基准像素设定接近区域,并且计算每个接近区域中的类似密度的平均值。然后,针对每个基准像素设定宽区域,并且计算每个宽区域中的类似密度的平均值。最后,从原图像的图像数据中减去宽区域中的类似密度的平均值,得到它们之间的差。

    表面检查装置
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101726499A

    公开(公告)日:2010-06-09

    申请号:CN200910204673.8

    申请日:2009-10-10

    Abstract: 本发明提供一种表面检查装置,包括:照射单元(2),其具有分别发出具有不同波长范围的多个照明光束的多个光源(12、13、14);以及成像单元(3),其将由检查表面(Wa)对从照射单元(2)的光源(12、13、14)发出的光束的反射所得到的反射光分光成具有不同波长范围的多个光分量,并且捕获与反射光分量对应的图像。多个光源(12、13、14)在保持与检查表面对置的状态的同时按给定顺序彼此相邻地放置。

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