一种电子元器件加速老化连续测量系统

    公开(公告)号:CN117969985A

    公开(公告)日:2024-05-03

    申请号:CN202311780788.8

    申请日:2023-12-21

    Abstract: 本发明公开了一种电子元器件加速老化连续测量系统,包括:若干电子元器件、恒温恒湿箱、射频开关、多路复用器以及电参数测量仪;所述射频开关,用于在对应的预设时段内,接通或者断开恒温恒湿箱与电源之间的通路,以及接通或者断开恒温恒湿箱与多路复用器之间的通路;恒温恒湿箱用于在各个预设时间周期内,为各所述电子元器件提供稳定的温度和湿度环境;多路复用器,用于将各个电子元器件与电参数测量仪连接,以通过电参数测量仪对各所述电子元器件进行测量,并获取各电子元器件的电参数测量数据;通过实施本发明,能够减少电子元器件加速老化试验当中的无效时间,提高了电子元器件的测量效率,并提高了加速老化试验结果的准确性。

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