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公开(公告)号：CN1305909C
公开(公告)日：2007-03-21
申请号：CN200380107561.1
申请日：2003-12-05
Applicant: 尤尼威蒂恩技术有限责任公司
IPC: C08F2/00
Abstract: 本发明涉及通过检验反应器壁的状态来评价流化床反应器的状态的方法。具体地说，本发明涉及使用位于分配板处并包括分配板帽的静电探头测量反应器中的静电的方法。本发明还涉及使用射频(rf)测定静电水平的方法。静电测量提供用于指示或预测流化床气相反应器中的主连续性扰乱。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101511877B
公开(公告)日：2012-09-05
申请号：CN200780033098.9
申请日：2007-08-09
Applicant: 尤尼威蒂恩技术有限责任公司
IPC: C08F2/00
CPC classification number: C08F10/00 , C08F210/16 , C08F2400/02 , C08F2/34 , C08F2/00 , C08F210/08 , C08F210/14 , C08F2500/20
Abstract: 在一些实施方案中，方法包括监测在流化床反应器中生产聚合物树脂的聚合反应，其中干燥熔融参考温度是该树脂的干燥形式的熔融行为的特性；以及根据指示该反应的至少一个被监测参数的数据，以在线方式确定下降的熔融参考温度，其中该下降的熔融参考温度至少基本等于干燥熔融参考温度和如下温度的差值：反应器中可冷凝稀释剂气体与树脂一起存在使干燥熔融参考温度下降的温度。任选地，该方法还包括根据下降的熔融参考温度或者由下降的熔融参考温度确定的粘附参数控制反应的步骤。
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公开(公告)号：CN1732187A
公开(公告)日：2006-02-08
申请号：CN200380107561.1
申请日：2003-12-05
Applicant: 尤尼威蒂恩技术有限责任公司
IPC: C08F2/00
Abstract: 本发明涉及通过检验反应器壁的状态来评价流化床反应器的状态的方法。具体地说，本发明涉及使用位于分配板处并包括分配板帽的静电探头测量反应器中的静电的方法。本发明还涉及使用射频(rf)测定静电水平的方法。静电测量提供用于指示或预测流化床气相反应器中的主连续性扰乱。
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公开(公告)号：CN101511877A
公开(公告)日：2009-08-19
申请号：CN200780033098.9
申请日：2007-08-09
Applicant: 尤尼威蒂恩技术有限责任公司
IPC: C08F2/00
CPC classification number: C08F10/00 , C08F210/16 , C08F2400/02 , C08F2/34 , C08F2/00 , C08F210/08 , C08F210/14 , C08F2500/20
Abstract: 在一些实施方案中，方法包括监测在流化床反应器中生产聚合物树脂的聚合反应，其中干燥熔融参考温度是该树脂的干燥形式的熔融行为的特性；以及根据指示该反应的至少一个被监测参数的数据，以在线方式确定下降的熔融参考温度，其中该下降的熔融参考温度至少基本等于干燥熔融参考温度和如下温度的差值：反应器中可冷凝稀释剂气体与树脂一起存在使干燥熔融参考温度下降的温度。任选地，该方法还包括根据下降的熔融参考温度或者由下降的熔融参考温度确定的粘附参数控制反应的步骤。
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公开(公告)号：CN100513428C
公开(公告)日：2009-07-15
申请号：CN200610142360.0
申请日：2003-12-05
Applicant: 尤尼威蒂恩技术有限责任公司
Abstract: 本发明涉及通过检验反应器壁的状态来评价流化床反应器的状态的方法。具体地说，本发明涉及使用位于分配板处并包括分配板帽的静电探头测量反应器中的静电的方法。本发明还涉及使用射频(rf)测定静电水平的方法。静电测量提供用于指示或预测流化床气相反应器中的主连续性扰乱。
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公开(公告)号：CN1958625A
公开(公告)日：2007-05-09
申请号：CN200610142360.0
申请日：2003-12-05
Applicant: 尤尼威蒂恩技术有限责任公司
Abstract: 本发明涉及通过检验反应器壁的状态来评价流化床反应器的状态的方法。具体地说，本发明涉及使用位于分配板处并包括分配板帽的静电探头测量反应器中的静电的方法。本发明还涉及使用射频(rf)测定静电水平的方法。静电测量提供用于指示或预测流化床气相反应器中的主连续性扰乱。
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