公开(公告)号：CN103534941A

公开(公告)日：2014-01-22

申请号：CN201180070842.9

申请日：2011-11-14

Applicant: 富士电机株式会社

Inventor： 铃木健 ,  松尾直之 ,  木代雅巳

IPC: H03F3/70 ,  H03F3/45 ,  H03G3/10

CPC classification number: H03G1/0023 ,  G01D5/24 ,  G01L9/08 ,  G01L9/12 ,  G01P15/125 ,  G01R27/025 ,  G01R29/24 ,  G01R31/2829 ,  H03F3/45183 ,  H03F3/45286 ,  H03F3/45475 ,  H03F3/70 ,  H03F2203/45521 ,  H03F2203/45526

Abstract: 本发明提供一种电荷检测电路，所述电荷检测电路能够容易地对差分放大电路的输入侧的增益进行调整。将由电荷发生型传感器及电容变化型传感器的任一个构成的物理量检测传感器（21、22）的一端连接到差分放大电路（1）的负极输入端子，将另一端连接到所述差分放大电路（1）的正极输入端子。在所述差分放大电路（1）的输出端子与所述负极输入端子之间，并联连接有反馈电阻Rf与反馈电容Cf，且在所述差分放大电路（1）的正极输入端子与基准电压间并联连接有消除电阻Rc与消除电容Cc。设置有漏极电压调整电路（12、13），所述漏极电压调整电路（12、13）对分别输入所述差分放大电路（1）的正负差分输入的2个场效应晶体管（FET1、FET2）中至少一个的漏极电压进行调整，从而能够对所述正负差分输入中的至少一个的增益进行调整。