公开(公告)号：CN115201240A

公开(公告)日：2022-10-18

申请号：CN202210846373.5

申请日：2022-07-19

Applicant: 安徽工业大学

Inventor： 侯清宇 ,  崔志强 ,  黄贞益 ,  王婵 ,  王萍

IPC: G01N23/2251 ,  G01B15/02 ,  G01N15/02

Abstract: 本发明公开了一种粉末颗粒表面镀层厚度和镀覆均匀性的评价方法，属于化学镀和统计学技术领域。本发明的粉末颗粒表面镀层厚度和镀覆均匀性的评价方法，包括以下步骤：分别拍摄得到包覆前后粉末颗粒的多个视场的SEM照片，通过图像分析软件分别统计其粒径分布；计算粉体包覆前后相等累计分布百分比之间的粉体粒径差，并通过数据拟合得出镀层厚度与镀覆前粉体粒径之间的关系；通过所得拟合关系式即可直接对粉末颗粒表面镀层厚度进行计算。本发明采用对微小颗粒大小随机测量和数理统计相结合的方法，通过建立镀覆前后微小颗粒的粒径分布和粒径大小的统计特征，从而可以对镀覆的均匀性和镀覆厚度进行评价。

公开(公告)号：CN115201240B

公开(公告)日：2024-05-10

申请号：CN202210846373.5

申请日：2022-07-19

Applicant: 安徽工业大学

Inventor： 侯清宇 ,  崔志强 ,  黄贞益 ,  王婵 ,  王萍

IPC: G01N23/2251 ,  G01B15/02 ,  G01N15/0227

Abstract: 本发明公开了一种粉末颗粒表面镀层厚度和镀覆均匀性的评价方法，属于化学镀和统计学技术领域。本发明的粉末颗粒表面镀层厚度和镀覆均匀性的评价方法，包括以下步骤：分别拍摄得到包覆前后粉末颗粒的多个视场的SEM照片，通过图像分析软件分别统计其粒径分布；计算粉体包覆前后相等累计分布百分比之间的粉体粒径差，并通过数据拟合得出镀层厚度与镀覆前粉体粒径之间的关系；通过所得拟合关系式即可直接对粉末颗粒表面镀层厚度进行计算。本发明采用对微小颗粒大小随机测量和数理统计相结合的方法，通过建立镀覆前后微小颗粒的粒径分布和粒径大小的统计特征，从而可以对镀覆的均匀性和镀覆厚度进行评价。