存储单元、差分存储单元及非易失性存储器

    公开(公告)号:CN115346580A

    公开(公告)日:2022-11-15

    申请号:CN202211028643.8

    申请日:2022-08-25

    Applicant: 安徽大学

    Abstract: 本发明公开一种存储单元、差分存储单元及非易失性存储器,该存储单元包括控制晶体管,作为电容器件,所述控制晶体管的阱作为控制端口;第一读取晶体管,第一读取晶体管的源极与阱相连作为读取端口;第二读取晶体管,第二读取晶体管的阱和源极与地电压相连;及选择晶体管,选择晶体管的栅极作为选择端口,选择晶体管的源极作为信号输出端口,选择晶体管的阱与地电压相连,第一读取管的漏极、第二读取管的漏极及选择管的源极相连;控制晶体管的栅极、第一读取晶体管的栅极和第二读取晶体管的栅极互相连接形成浮栅。本发明的存储单元编程和擦除操利用FN隧穿效应,具有功耗低、存储密度高,面积小,擦写忍耐性及数据保持性强,以及读取速度快的特点。

    一种抗侧信号攻击存储单元
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115374491A

    公开(公告)日:2022-11-22

    申请号:CN202211010294.7

    申请日:2022-08-23

    Applicant: 安徽大学

    Abstract: 本申请公开一种抗侧信号攻击存储单元,该抗侧信号攻击存储单元包括写操作电路,具有一对互补存储节点;行为模仿电路,与所述写操作电路结构一致,所述行为模仿电路具有一对互补伪存储节点;读操作电路,与所述写操作电路连接;其中,所述行为模仿电路用于在所述写操作电路写入数据后,模仿所述写操作电路的互补状态,以保证所述抗侧信号攻击存储单元在存储不同数据时功耗的一致性。本申请设置与写操作电路结构一致的行为模仿电路,在写操作电路写入数据后,利用行为模仿电路模仿写操作电路的互补状态,以保证所述抗侧信号攻击存储单元在存储不同数据时功耗的一致性,提高了存储单元抗功耗攻击的能力。

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