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实用新型
X波段环行器测试装置失效

公开(公告)号：CN202421344U

公开(公告)日：2012-09-05

申请号：CN201120534515.1

申请日：2011-12-20

Applicant: 安徽华东光电技术研究所

Inventor： 吴华夏 , 刘劲松 , 丁美凤 , 王华 , 陈吉安 , 汪伦源 , 鲁文婷

IPC: G01R27/26 , G01R27/06 , G01B21/30

Abstract: 本实用新型公开了一种X波段环行器测试装置，包括有校准件、测试件；校准件包括有底座、基板、两个SMA接头，两个SMA接头分别固定于底座底座上表面的两端处，基板固定在底座的上表面，基板上表面具有微带线；测试件包括有底座、三块基板、三个SMA接头、压片，三个SMA接头分别固定于底座的三个端处外侧，三块基板均固定在底座上表面，每块基板上表面均具有微带线，每条微带线的另一端设有测试引出端口悬于所在基板外，测试件的中间位置留有一定空间用于推送环形器进入空间进行测试。本实用新型的优点在于结构简单、加工方便、体积紧凑、重量轻。

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